原子力顯微鏡是一種用來研究材料表面結構的分析儀器。它通過待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質，從而在掃描樣品時獲得樣品表面納形態的納米級結構信息及粗糙度信息。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡可以提供全面的原子力顯微功能，包含所有常規成像模式，*的三軸獨立閉環掃描器能獲得既具有高分辨率又僅有低噪音的高質量圖像，*避免了傳統的管式掃描固有的耦合誤差等缺陷。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡安裝簡單，操作方便，預裝懸臂使原子力探針安裝一步到位，自動下針，軟件移動樣品臺實現高效率區域定位，界面簡單，沒有復雜的軟件界面和參數設置。只需要簡單的幾個參數設計就可以快速成像，強大的光學顯微鏡和直觀的軟件使用戶非常方便的獲取樣品表面圖像信息，

        瑞宇科技的AFM+擴展功能強大，可以與多種模塊結合，完成納米級的紅外光譜分析、紅外吸收光譜成像、電學，磁學，納米力學等各種材料微區物理性能的表征，應用范圍非常廣泛。是實現現代材料納米尺度研究zui基本的研究手段之一。

        瑞宇科技的AFM+具有熱探針技術，配備的納米熱分析模塊，可提供納米尺度熱轉變溫度測量和原位熱加工，方便快速的對軟質材料如共混物/混合物/多層膜等進行局部熱分析鑒定。

        瑞宇科技的AFM+和LCR力學性能檢測模塊結合，可以進行快速寬頻的納米機械光譜分析，多組分試樣能夠在多種頻率下成像，每種成分都能夠被單獨的識別和成像，方便快速的獲得異質材料如共混物、混合物等各組分的分布情況。

        瑞宇科技的AFM+可以進一步升級具有納米尺度紅外光譜檢測（nanoIR）或散射式光學近場顯微鏡功能（s-SNOM），nanoIR將紅外光譜技術和原子力顯微鏡結合到一起，具有100nm以下紅外光譜采集和紅外吸收成像能力。s-SNOM具有10nm分辨率近場光學成像能力。升級后，系統可同時具有表面形貌表征、熱轉變溫度檢測、力學性能檢測和微區成分檢測功能。

主要參數：

平面掃描范圍：<80x80um

平面分辨率：<0.2nm

縱向掃描范圍：>6um

縱向分辨率：<0.2nm

高度噪音：<50pm

載物臺：7mmx9mm，馬達自動控制

工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式

標準模塊：相位、橫向力（摩擦）、力曲線、力調制、靜電力和磁力模塊

選配模塊：導電力模式，表面電勢模塊

光學分辨率：1.5um

光學顯微鏡zui大可視場： ～900x600um

應用：

生物研究，生物細胞表面形態觀察

晶體生長機理研究

金屬及半導體表面形態、表面重構、表面電子態研究

現場電化學研究

各類粉體材料及多晶固體材料的微區形貌表征及納米性能研究

高分子等復合材料應用的納米微區形貌和性能表征研究

電池材料、催化劑材料、納米材料的微區形貌與性能分析