光譜響應/QE太陽能量子效率 /光電轉換效率測試系統

     ?光譜響應測試系統/QE太陽能量子效率測試儀 /光電轉換效率測試系統(美國菲瑞斯)   

     可以測試太陽能電池的光譜響應，光電轉換效率，IPCE，量子效率等特性。包括各種太陽電池和探測器等光電材料，像各種半導體材料和各種有機電池及染料敏化電池等。系統包含交流法測試和直流法測試兩種測量方式，典型可測量波長范圍300-1100nm或更寬范圍，可進行薄膜電池及多結電池測量；可進行反射率和內量子測量；可擴展為Mapping掃描功能等；整套系統計算機自動控制，操作簡易方便。
一個交鑰匙工程，QE / IPCE 測量解決方案符合光伏測試標準，像 ASTM 和 IEC標準等，可廣泛應用于科研院校、檢測機構或者工廠研發領域。


規格參數：A
1.交鑰匙測試系統，*自動化測試；
2.*一體化設計，操作簡單方便，實現快速測量；
3. 精確的測量結果，符合ASTM E 1021-06和IEC 60904-8測試標準；
4.*的光源穩定性和系統測試信噪比；
5.系統可擴展制紫外/紅外光譜探測器輻射定標；
6.系統可擴展PL測試功能；
  7.標準探測器：校準數據NIST溯源，系統定標范圍：200-1100nm (Si Detector，NIST traceable)
探測器校準波長范圍：200-1100nm。系統可擴展為200-1800nm或者遠紅外波長；包括升級為紅外探測器光譜響應輻射定標或者紅外光電材料測試；
8.* 測量時間由300-1100nm，間隔10nm，測量不超過3分鐘.*的系統測試重復性：系統測試結果可重復性：≤±0.15% (350–1100nm) ; 短路電流密度不重復性:≤±0.15%.
9.*QE系統測量波長范圍：300-1100nm；
10 .*測試功能：AC交流測試，DC直流測試；EQE外量子效率；SPV表面光電壓譜測試功能；其他功能為模塊化設置，可方便擴展。
11.*含SPV表面光電壓譜模塊，具備可測量材料的SPV表面光電壓譜功能和I-t、V-t測試功能，同時具備SPV表面光電壓譜自動數據采集并自動繪制I-t、V-t曲線及SPV曲線；
12．可測量各種硅電池，各種半導體光電材料、銅銦鎵硒、碲化鎘、砷化鎵電池、Si類光電器件， a-Si 、CIS-Cell 、Multi-Cell、CdTe-multi layer 、Tandem-cell 、Mono-Cell、Organic-Cell、CIG-Cell、GaInP/GaAs/Ge、GaAs/CIS (thin film)、單晶、多晶硅、非晶微晶硅微納器件、多結疊層電池、聚能電池、染料敏化電池、新型鈣鈦礦電池、薄膜電池等等及其他有機或無機類光電器件或者探測器。
13.*可測量電池面積：1 x1mm2~200 x200mm2（根據用戶需求定制）
14.典型測量光斑：1×1mm，用戶可調；計算機自動掃描，波長間隔用戶連續可調，具備用戶自定義功能，操作非常簡便。*光路照射方式：從上而下照射，以方便樣品擺放與測量，也可水平照射，方便適合各種電池。
15.測試光源：光譜分析用高穩定性科研級石英鹵鎢燈光源，光學穩定度≦0.15%，電源穩定度：≦0.1%。光源光譜范圍：300-2600nm。燈源位置可微調。平滑的光譜曲線更適合做精細光譜分析。符合NIST測試標準。
16.系統單色光產生方式：采取單色儀式分光系統，Czerny-Turner. 
    精度：0.007nm
    掃描速率:1 to 1200nm/minute (with 1200g.mm grating).
    雜散光：< 10-5 ；F常數≦3.9。
17.六位電動濾光輪及3套級差濾光片消除二級衍射，自動和手動控制，可顯示目前位置。
18.*標準探測器：日本濱松。含校準證書。*的的計量用標準探測器， 光譜校準范圍：硅：200－1100nm；