TMS透過率測試系統是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率，可用于實時在線檢測，實現產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
技術參數
型號 | TMS（I型） | TMS（Ⅲ型） |
探測器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢測范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波長分辨率 | 1nm | 1nm |
信噪比（全信號） | 250：1 | 1000：1 |
相對檢測誤差 | ﹤0.5%（400-800nm） | ﹤0.2%（400-800nm） |
單次測量時間 | ﹤1s | |
樣品尺寸 | ≥ Φ1mm | |
操作系統/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
電源/功率 | 220V-50HZ /6W | |
TMS透過率測試系統-*的軟件設計
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據，自動調整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。
譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫，可根據數據庫已存標準數據對比分析結果，用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。
