X-Strata920系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/
鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析，實現了對X-Strata920主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多5層、15種元素。X-Strata920鍍層測厚儀行業覆蓋率高
X-Strata920鍍層測厚儀行業覆蓋率高
X-Strata920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點小可
達0.025 x 0.051毫米。
X-Strata920系列采用開槽式樣品室，如左圖示(圖為程控
樣品臺)。它可提供三種規格的樣品臺供用戶選用，分別
為：
?標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
?加深臺：可調高度型標準樣品臺，XY軸手動控制、
Z軸自動控制。
?程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
儀器原理及測量方法介紹
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征
? 可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
? 可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直
接接觸或破壞被測物。
? 薄膜FP法軟件是標準配置，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外，適
用于無鉛焊錫的應用。
? 備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
● 2.測量原理
物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
X-Strata920鍍層測厚儀行業覆蓋率高
