2016年伊始，天美公司隆重推出一款新產(chǎn)品——微區(qū)X射線熒光分析儀Atlas。作為一款小巧的能量色散型X射線熒光分析儀（EDXRF），Atlas的諸多性能表現(xiàn)優(yōu)異，空間分辨率、操作自動化，束斑尺寸等指標(biāo)在同類產(chǎn)品中*。

介紹：能量色散型X射線熒光分析儀

　　IXRF專注于精確地微區(qū)量痕元素分析產(chǎn)品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線熒光（XRF）。

　　Atlas作為XRF市場的新貴，其在軟硬件方面的優(yōu)勢，以及功能上的應(yīng)用特點，注定其將成為微區(qū)XRF分析市場的里程碑式產(chǎn)品。

　　在硬件方面，作為一款臺式XRF，Atlas的體積為890×560×560mm，具有市面上同類產(chǎn)品大的樣品倉體積（508×457×254mm），相對應(yīng)的是大的樣品臺行程（320×320×120mm）以及重的載重量（≥10KG），而與此同時，卻可以將樣品臺的移動速度提升到300mm/s，移動精度≤1μm。

其采用的毛細(xì)管聚焦技術(shù)，可將束斑縮至10μm（同類產(chǎn)品小），另外也可通過選用準(zhǔn)直器等配件，使束斑在10μm—1000μm之間的范圍內(nèi)可調(diào)；其多大8片的濾波片選擇，可滿足更多的分析需求。

　　在軟件方面，作為曾因其軟件研發(fā)能力而獲得英國政府頒發(fā)的千禧年大獎的公司，IXRF在Atlas操作軟件的開發(fā)上沿襲了其一貫的專業(yè)性及開放性。

在數(shù)據(jù)的獲取及處理上，可實現(xiàn)數(shù)據(jù)的一鍵采集，或自動或手動的鑒別樣品成分，并利用FP建模或quantitative  match等功能實現(xiàn)樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對獲取的圖像進(jìn)行拼接，還可實現(xiàn)相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態(tài)學(xué)上的測量及成分分析等功能；在面分布及線掃描方面，可同時獲得多達(dá)35種元素的信息，并且實現(xiàn)單像素的譜圖數(shù)據(jù)采集，并可*保存下來，后續(xù)仍可繼續(xù)對此數(shù)據(jù)進(jìn)行點線面等處理。

　　在應(yīng)用方面，可在各種環(huán)境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品，無論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實現(xiàn)無損分析。

有鑒于Atlas的突出的性能特點，其被廣泛的應(yīng)用到地礦文博、電子器件、環(huán)境監(jiān)測、刑偵醫(yī)學(xué)、醫(yī)藥檢測等方面。

技術(shù)參數(shù)