光度計規格
適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量。基于我們已有的成熟平臺，Asteria是專門為需要內置強大計算能力、易于產線集成和快速得到測試結果的產線應用開發的。
光度計規格
適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量。基于我們已有的成熟平臺，Asteria是專門為需要內置強大計算能力、易于產線集成和快速得到測試結果的產線應用開發的。
Asteria可以提供兩種配置：鏡頭配置可以用于測量亮度(cd/m²)和flicker。余弦校正探頭配置可以用于測量照度(lux)和flicker。
Asteria系列特點：
亮度或者照度測量，探測器響應匹配人眼響應曲線（CIE1931）
支持液晶行業(Contrast,JEITA,VESA)和燈具行業(percentage, Index)所有6種flicker計算方法.
所有計算儀器內部完成，包括JEITA，便于系統集成
得益于高速的采樣頻率和大的內存，可以同時測量高頻信號和低頻信號（比如1Hz）
支持外部觸發功能，適合產線應用
支持大部分的編程語言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等
USB和RS232通訊接口
光度計規格
測量參數
| 參數 | 范圍 | 準確性 | 重復性 |
| 分辨率 | 15bit for X,Y and Z | >78dB | |
| 亮度(Y) | 0.002cd/m2-15000cd/m2 積分時間1ms-5s之間 | ±4%測量值 | Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2 |
| Y:±0.1% for Y at 1cd/m2 | |||
| Y:±0.05% for Y at 5cd/m2 | |||
| Y:±0.03% for Y at 150cd/m2 | |||
| 測量速度 | 4-10次/秒(0.1cd/m2); 10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2); | ||
| Flicker (contrast method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1%
|
| Flicker (Jeita method) | 1cd/m2或更高亮度
| ±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1dB
|
| 工作溫度 | 10-35℃ | ||
