電子探針-面分析

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更新時間2021-11-25

武漢上譜分析科技有限責任公司

廠商性質其他
所在地區武漢市
實名認證已認證
產品數量30
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武漢上譜分析成立于2013年1月，已獲得CMA資質認證，GeoPT、G-Probe國際盲樣分析檢驗水平，是國內提供專業地球化學綜合分析測試服務的實驗室，提供碎樣、磨片、單礦物分選、制靶、透反射、陰極發光、LA-ICP-MS各類礦物U-Pb定年、LA-ICP-MS微區原位微量元素分析、LA-MC-ICP-MS微區原位同位素比值分析、ICP-MS 微量元素分析、MC-ICP-MS 同位素比值分析、XRF主量元素分析、二價鐵含量分析，EPMA電子探針分析等測試服務。公司技術人員來自地質院校，從業經驗豐富，同時聘請地化專家團隊作為技術顧問，全力為客戶提供專業的分析測試服務。

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產品簡介在線詢價

測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務

電子探針-面分析產品詳情

測試項目：電子探針
測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數據質量；2、提前將測試點位用半圓圈起，并將各點位直線連接以便測試時快速定位，具體請咨詢相關技術人員。
完成標準：儀器狀態良好，監控標樣測試值在允許誤差范圍內。
方法描述：

24.1 EPMA方法說明

儀器型號為日本電子（JEOL）JXA8230電流：1*10^-⁷A、電壓：20kV
束斑：根據面掃區域大小及圖像分辨率適當選擇（分辨率＞256*256）
采樣時間：根據束斑及分辨率計算（≈2小時）
以上為常規測試條件，如需高精度面掃圖像可根據需求進行調整。
硅酸鹽礦物各元素含量校正標樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標樣為純物質：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標樣。

關鍵詞：電子探針標準

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