利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
X-Strata920 – 性價比高，無損可靠
一款操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
新型號設計
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經濟、實用
平面樣品臺設計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調，架構式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
用于自動化測量
方便根據測試位置放置樣品，并精準定位測量點
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板
樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
