產品類型： 能量色散X熒光光譜分析設備
產品名稱： 鍍層厚度分析儀
型 號： iEDX-100G （可同時具備環保RoHS檢測功能）
原 產 商： 韓國ISP公司

產品優勢
1.鍍層檢測，檢測層數范圍1-3層；檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm－99.99%。
2.樣品倉空間大 長*寬*高310 × 284 × 100 mm(W × D × H)；
3.運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低；
4.操作簡單、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速檢測（5-40秒）；
5.配置：Si-pin探測器、超長壽命X射線管、超穩定性高壓電源。
6.超高分辨率：135±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高，檢測越精準，這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標）；
7.固定式對焦模式，無需調整焦距；
8.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件；
9.軟件升級；
10.無損檢測，一次性購買標樣可使用；
11.使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供保姆式服務；
12.實現鍍層和成份分析同時檢測；
13.具有遠程服務功能，在客戶請求的情況下，可遠程進行儀器維護；

產品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
2.計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）
3.Multi Ray. 運用基本參數法（FP）軟件，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析。
4.MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
5.元素分析：暫時不能分析元素H, He, Li, Be, B, C, N, O；

分析精度及穩定性：
1） Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, Ti, W, Au, Ag, Sn等重金屬含量的檢測限達10～20ppm，對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準：
A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取差值小于0.1%
B. 檢測含量在0.5～5%的元素穩定的測試讀取差值小于0.08%
C. 檢測含量在0.1～0.5%的元素穩定的測試讀取差值小于0.05%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取變化率小于10%
2）Mg，Al, P, S, Si, As可做半定量檢測。
6.Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Multi-Ray 金屬行業精確定量分析軟件。可同時分析8種元素。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。
7.應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求，歐盟及北美RoHS檢測等要求標準，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。EN71-3規定的八大重金屬：鉛：Pb、汞：Hg、鎘：Cd、銻：Sb、硒：Se、砷：As、鋇：Ba、鉻：Cr。
8.完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
9. 特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。