儀器原理：
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將來自試樣的熒光X射線依次檢測，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計脈沖數(shù)，脈沖幅度可以用X光子的能量標度，從而得到計數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。
產(chǎn)品特點：
采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器，分辨率高,穩(wěn)定性好。
2. 配置國際的DPP數(shù)字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能更佳，尤其在高計數(shù)率時有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時間更短，測量重復性和長期穩(wěn)定性更好。
3. 內置高清攝像系統(tǒng)，清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區(qū)域。
4. 配套的FP測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結果。
5.下照式設計，可以快速方便地定位對焦
產(chǎn)品介紹：
| 編 號 | 產(chǎn) 品 規(guī) 格 | 備 注 |
| 產(chǎn)品規(guī)格 | 產(chǎn)品型號：BXR-606 |
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| 產(chǎn)品名稱：能量色散X熒光光譜儀 | ||
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
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| 分析元素 | 元素分析范圍硫（S）-鈾（U）任意元素 檢測78種元素鍍層，0.005um檢出限，最深凹槽可達90mm 可以分析最多5層鍍層，一次可分析元素多達24種 |
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| 工作條件 | 工作溫度：18-22℃ |
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| 相對濕度：40%-60% | ||
| 電 源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz | ||
| 測定條件：大氣環(huán)境 | ||
| 技術指標 | 檢出下限：Pb /Cd/Cr/Hg/Br/≦2ppm |
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| 測試樣品時間：50－300秒可調 | ||
| 測試含量范圍：1ppm－99.99% | ||
| 分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到50μm | ||
| 樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀 | ||
| 樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 | ||
| X射線管： 管電壓/0～50 kV 管電流/1～1000 μA，功率: 50 W，燈絲電壓: 2.0V，燈絲電流: 1.7 A，射線取出角：12°靶材：鎢靶，鈹窗厚度：400um，超溫超載保護，不工作時自動進入待機狀態(tài)延長使用壽命。 | ||
| 照射直徑：準直器8mm/2mmm/1mm | ||
| 探測器： 美國Amptek Si-PIN高靈敏度探測器，分辨率：149±5eV。 | ||
| 美國Spellman高壓電源： 輸入電壓: DC +24V±10%，輸入電流：4.25A（），輸出電壓: 0 -50KV & 1mA ，功率：50W，電壓調整率：0.01% （從空載到滿載） 電流調整率：0.01% （從空載到滿載），紋波電壓：輸出額定電壓前提條件下，紋波電壓的峰值為輸出電壓的0.25%，8小時穩(wěn)定性：≤0.05%。 | ||
| 散熱系統(tǒng)： 機身前后有多個散熱孔散熱，機身內有3個風扇進行風冷，X光管進行涂層高溫降熱樹脂后散熱片包裹，再有1個風扇對其吹風散熱。 | ||
| 防輻射系統(tǒng)： 軟硬結合的防輻射設計，三重處理：X光管的特殊輻射處理、樣品蓋的雙層鉛皮包裹、軟件的輻射預警（儀器工作中人員誤操作開啟樣品腔時儀器會自動全部斷電關機，保證操作人員安全），取得國家規(guī)定的輻射安全許可證，輻射劑量低于國家標準。 | ||
| 濾光片：八種新型濾光片自動選擇設定 | ||
| 樣品監(jiān)測系統(tǒng)： 30倍500萬像素彩色CCD攝像機，在軟件測試界面可實時觀察樣品狀態(tài)和放置樣品測試前微動調整樣品位置，樣品測試完成后圖樣清楚呈現(xiàn)在測試報告中。 | ||
| 軟體系統(tǒng)： 定量分析計算，運用理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) 、集成FP、法經(jīng)驗系數(shù)法，針對RoHS無鹵元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl）的精準測試。多種語言操作界面，操作簡單，一鍵式設計，可生成各種人性化定制報告，能夠自動輸出PDF,EXCEL等報告格式。 | ||
| 額定功率：0.35kW | ||
| 重量：50Kg | ||
| 外形尺寸：650(W)×450(D)×450(H)mm | ||
| 樣品腔尺寸：350(W)×300(D)×150(H)mm，大樣品蓋可進行開蓋敞開測試。 |
