北京博宇訊銘科技有限公司
美爾諾電子負載、可編程電源，遠方功率分析儀、變頻電源，金科LCR測試儀，美瑞克安規測試儀
一級總代
1、生產線、實驗室提供穩壓電源，編程電源，變頻電源
2、為電源電池檢測生產企業提供電子負載，可編程電源配套設備
3、為維修、生產企業提供電子測量儀器、安規檢測儀器、元器件分選儀器
4、為維修、加工生產企業及個體提供焊臺風槍
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五合一安規掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、 層間短路、 直流電阻)
耐壓測試(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接觸檢查
絕緣電阻測試(IR) : 5kV
繞線元件脈沖測試 (IWT)
-脈沖測試高取樣率(200MHz)
直流電阻測試 - 10通道四線直流電阻測試 /-Δ型/Y型馬達繞線電阻計算
支援40通道掃描測試
繁中 / 簡中 / 英文操作介面
USB波形儲存& 畫面擷取功能
圖形化彩色顯示
標準LAN, USB, RS232介面
GFI人體保護電路
19036與C h r o m a其他安規測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內部或表面因高電界產生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成暫態或非連續性放電，導致碳化導電通路產生或產品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試*的檢視項目之一。
19036與C h r o m a其他安規測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內部或表面因高電界產生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成暫態或非連續性放電，導致碳化導電通路產生或產品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試*的檢視項目之一。
部分生產廠商常以并聯進行耐壓測試以提升生產檢測速度，但并聯測試時，無法正確設定電流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進行測試，增加站數及成本。
19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產需要并聯測試時，經由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯)不良時，才會進行次測項測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產速與高檢測品質佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
部分生產廠商常以并聯進行耐壓測試以提升生產檢測速度，但并聯測試時，無法正確設定電流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進行測試，增加站數及成本。
19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產需要并聯測試時，經由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯)不良時，才會進行次測項測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產速與高檢測品質佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
所謂的''繞線元件脈沖測試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發現繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發覺之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續現象。
所謂的''繞線元件脈沖測試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發現繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發覺之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續現象。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 體積表面電阻率測試儀 | ￥11000 | 濰坊市 | 山東優云譜光電科技有限公司 | 2025-07-11 | 在線詢價 |
| 接地電阻測試儀 | ￥2300 | 淄博市 | 山東宏程自動化科技有限公司 | 2025-02-18 | 在線詢價 |
| 吉時利 電學特性參數測試儀器 6517B靜電計 8009電阻率測試夾具 | 面議 | 深圳市 | 深圳市賽儀歐電子有限公司 | 2025-03-02 | 在線詢價 |
| 極片電阻測試儀 | ￥11310 | 北京市 | 北京冠測精電儀器設備有限公司 | 2025-06-12 | 在線詢價 |
| 極片電阻測試儀 | ￥13111 | 北京市 | 北京中科微納精密儀器有限公司 | 2025-06-11 | 在線詢價 |
| GD3125絕緣電阻測試儀 | ￥5500 | 揚州市 | 揚州嘉寶電氣有限公司 | 2025-04-28 | 在線詢價 |
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