Keithley 自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 是靈活的交互式軟件測(cè)試環(huán)境，旨在用于器件檢定、參數(shù)化測(cè)試、可靠性測(cè)試，甚至是簡(jiǎn)單的功能測(cè)試。ACS 支持各種 Keithley 儀器和系統(tǒng)、硬件配置和測(cè)試設(shè)置，從用于 QA 實(shí)驗(yàn)室的一些臺(tái)式儀器到集成且基于機(jī)架的自動(dòng)化參數(shù)測(cè)試儀。有了 ACS，用戶(hù)即可隨時(shí)并快速地執(zhí)行測(cè)試，而無(wú)需具備編程。
用于特性分析的靈活編程方式
ACS的特點(diǎn)是腳本編輯器，這是一個(gè)獨(dú)立的工具，帶有圖形用戶(hù)界面，用于開(kāi)發(fā)Python代碼和TSP®腳本，進(jìn)行儀表控制、數(shù)據(jù)分析和系統(tǒng)自動(dòng)化操作。其提供創(chuàng)建和開(kāi)發(fā) GUI 設(shè)計(jì)以及管理用戶(hù)庫(kù)和模塊的直觀(guān)方法。
自動(dòng)化數(shù)據(jù)收集過(guò)程
ACS的晶圓探針自動(dòng)化選項(xiàng)使您能夠輕松將各種常用的半自動(dòng)或全自動(dòng)晶片探針臺(tái)連接到測(cè)試設(shè)置中，從而可以快速捕獲大量數(shù)據(jù)。此選項(xiàng)包括晶片描述實(shí)用程序、具有晶片評(píng)等功能的實(shí)時(shí)晶片圖、暗盒樣品計(jì)劃實(shí)用程序以及測(cè)試后暗盒和晶片查看實(shí)用程序。ACS 內(nèi)置的許多工具和功能都可以增強(qiáng)設(shè)備的自動(dòng)檢定能力。
分享測(cè)試項(xiàng)目和結(jié)果
ACS提供了一組通用的關(guān)鍵元素，可以跨多種硬件配置工作，從而減少了時(shí)間并提高了生產(chǎn)率。系統(tǒng)從一個(gè)硬件到另一個(gè)硬件實(shí)現(xiàn)的執(zhí)行是一致的，因此，例如，很容易將用于單設(shè)備組件表征的基礎(chǔ)ACS系統(tǒng)的你的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)移到另一個(gè)設(shè)計(jì)用于晶圓級(jí)測(cè)試的系統(tǒng)。
限度地提高 Keithley 硬件的生產(chǎn)率
ACS中的工具簡(jiǎn)化了測(cè)試開(kāi)發(fā)流程，限度地提高了與系統(tǒng)相連的每個(gè)Keithley儀器的速度。ACS 和 Keithley 基礎(chǔ)TSP的硬件一起提供了業(yè)界的吞吐量，從而降低了測(cè)試成本，不需要您在獲得實(shí)現(xiàn)目標(biāo)所需的數(shù)據(jù)之前花時(shí)間學(xué)習(xí)新的編程概念或語(yǔ)言。
