IKEIDARIKA池田理化光譜儀FMX46
NexION 1000,NexION 2000,FMX46,FHX3X,PS7800,PS3500DDⅡ,iCAP PRO,NexION5000,Avio 5x0,Avio 220 Max,Agilent 8900,Agilent 7850,Agilent 5800 ICP-OES,Agilent 5900 ICP-OES
IKEIDARIKA池田理化光譜儀FMX46
IKEIDARIKA池田理化光譜儀FMX46
NexION 1000,NexION 2000,FMX46,FHX3X,PS7800,PS3500DDⅡ,iCAP PRO,
NexION5000,Avio 5x0,Avio 220 Max,Agilent 8900,Agilent 7850,Agilent 5800 ICP-OES,Agilent 5900 ICP-OES,Agilent 7900 ICP-MS
ICP質譜儀NexION 1000/2000系列采用PerkinElmer的動態反應池(DRC)通用池技術(UCT),可處理多種應用。由于對使用的反應池氣體沒有限制,不受多原子離子干擾,非常適用于需要分析痕量有毒金屬和高濃度礦物質成分的環境樣品、食品樣品、藥品和膳食補充劑,以及超痕量分析我們滿足所有客戶的分析需求,包括半導體材料和納米粒子等新功能材料。
多ICP光發射光譜儀SPECTROGREEN特征:DSOI(Dual Side-On Interface)是一項使用垂直等離子炬進行直接徑向光度測量的新技術。ORCA:Paschenrunge 光譜儀可以分析165至770nm的波長范圍。
多ICP光發射光譜儀SPECTRO ARCOS特征:
Paschenrunge CMOS光譜系統與傳統的Echelle光譜儀(8.5pm@130-340nm，15pm@>340nm)相比,三重安裝Paschenrunge光學系統在寬波長范圍內提供高分辨率。沒有中間光學元件的簡單結構限度地減少了光衰減和雜散光。
3 種等離子測光接口可以根據您的應用和使用目的從 3 種等離子測光接口中進行選擇。
EOP(等離子端):軸向光度法EOP可通過直接光度法實現高水平的靈敏度測量。
新型LDMOS固態高頻發生器,功率范圍500-2000W。
臺式ICP發射光譜儀PS7800系列特征:
采用分離式,將分光器、高頻電源和數據處理單元分為三部分,提高了布局靈活性和可維護性。
開發了在順序分揀機中使用凹面衍射光柵的雙單色器。
分析條件自動確定功能即使是初學者也能在分析條件下進行分析。此外,只需按一下按鈕,即可將測量結果轉換為Microsoft Excel數據,從而實現各種數據分析和原始報告的創建。
高分辨率ICP發射光譜儀PS3500DDII系列特征:
高分辨率測量分光光學元件的精密加工、光學系統的優化和先進的直接驅動掃描技術實現了高吞吐量和我們以前型號的0.0045 nm的高水平的波長分辨率(半值寬度)提高到0.003nm(掃描分辨率為0.00065nm)。
進樣系統的改進,提高了霧化進樣的穩定性,提高了測量結果的可靠性,1小時的長期測量重現性CV≤0.4%。
配備Hyper Direct Drive,衍射光柵的旋轉速度比傳統型號提高了10倍以上。
等離子箱內的氣體管道和過濾器的布局已經過修改,以提高可操作性和可維護性。
Hyper Direct Drive僅需1秒即可在整個波長范圍內驅動衍射光柵。
ICP 發射光譜儀Thermo Scientific iCAP PRO系列特征:垂直炬管和等離子接口可實現高基體耐受性和長期穩定性。光學設計和先進的高速電荷注入裝置(CID)檢測器提高了準確性。顯著縮短設備啟動時間,減少測量開始前的等待時間,減少氬氣消耗。
NexION5000是一款革命性的多四極桿ICP-MS,具有真正的三重四極桿,旨在應對具有挑戰性的應用。與傳統的三重四極桿ICP-MS相比,它具有光譜干擾抑制、靈敏度和檢測限。
Avio 5x0 Max具有真正的同步測量系統、高靈敏度和出色的分辨率。我們幫助您限度地利用您的資源,甚至測量最復雜的待分析樣品。Avio 5x0 Max ICP-OES具有旨在滿足高通量實驗室需求的功能,使分析"更快、更容易"。設備尺寸為W76×D84×H87cm,節省空間。
ICP發射光譜儀Avio 220 Max特征:低的氬氣消耗平板等離子技術；出色的波長穩定性動態波長穩定機制；快速啟動；出色的靈敏度和分辨率雙單色器和CCD檢測器；165至900nm的寬測量范圍；擴展動態范圍Avio220 Max雙視圖技術；ICP軟件Syngistix；節省空間；可根據應用選擇的豐富陣容。
ICP質譜儀Agilent 8900三重四極桿ICP-MS特征:實現MS/MS功能；實現超高靈敏度和低背景；單個ICP-MS顯著減少了不可能的多原子干擾；可進行以往難以實現的S、Si等超痕量分析；增強的納米粒子測量能力；實現10-10或更高的出色豐度靈敏度。
Agilent 7850 ICP-MS消除了浪費時間的ICP-MS分析。它巧妙地減少了浪費的時間,讓忙碌的員工可以專注于真正重要的事情。7850 ICP-MS可以分析溶解固體濃度高達25%的樣品,從而節省您的稀釋時間。該儀器可以用碰撞反應池去除多原子和雙電荷離子干擾。這簡化了方法開發并消除了耗時的樣品重新運行的常見原因。
ICP 發射光譜儀 Agilent 5800/5900 ICP-OES特征:
省空間對應；
每個樣品73個元素實現1分鐘或更短的速度；
可直接分析25%溶解固體濃度的樣品；
出色的長期穩定性；
高分辨率、高靈敏度；
IntelliQuant功能等智能軟件。
ICP質譜儀Agilent 7900 ICP-MS特征:
改進的基質耐受性；
配備超高基質引入(UHMI)功能,無需稀釋即可直接分析高達25%溶解固體濃度的樣品；
碰撞反應池干擾抑制；
從ppt級高靈敏度分析到%級高濃度分析超過11個數量級的動態范圍；
增強的納米粒子測量能力。
