半導體芯片多功能推力測試機是一種用于測試半導體芯片推力的儀器。下面是該產品的詳細介紹：
型號：LB-8500L
產品特點：
多功能測試：該測試機可以同時測試半導體芯片的推力和拉力，滿足不同測試需求。
高精度測試：采用高精度傳感器和控制系統，可實現精確的推力和拉力測試。
自動化測試：該測試機配備了自動化測試軟件，可實現自動化測試和數據處理，提高測試效率和準確性。
可靠性測試：該測試機可用于半導體芯片的可靠性測試，包括長時間推力測試和循環推力測試等。
易于操作：該測試機采用人性化設計，操作簡單方便，適用于不同的測試人員。
產品參數：
設備型號：LB-8500L
外型尺寸：1500*1200*1600
設備重量：約850KG
電源供應：110V/220V@4.0A 50/60HZ
壓縮空氣：4.5-6Bar
真空輸出：500mm Hg
控制電腦：聯想PC
軟件運行：Windows7/Windows10
顯微鏡：三目影像顯微鏡
傳感器更換方式：自動切換或手動更換測試模塊
平臺治具：平臺共用多種測試治具，按客戶樣品量身設計匹配治具
XY軸有效行程：X軸有效行程500mm，Y軸有效行程300mm，可按客戶產品訂制具體尺寸
Z軸有效行程：80mm
XY軸分辯率：±1um Z軸分辯率±1um
傳感器精度：傳感器精度±0.003％；綜合測試精度±0.25％
應用領域：
該測試機廣泛應用于半導體芯片的推力測試和可靠性測試，適用于電子、通信、航空航天、汽車等領域。
以上是半導體芯片多功能推力測試機的產品詳情。該測試機具有多種功能和高精度測試能力，可滿足不同測試需求，并廣泛應用于各種領域。
