LET-2000系列半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) LET-2000D是滿足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評(píng)估、驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)等需要半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)的場(chǎng)合。特別對(duì)于應(yīng)用第三代半導(dǎo)體的需要,LET2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬,可以有效的測(cè)量出實(shí)際的器件參數(shù)。 - 雙脈沖測(cè)試法可以測(cè)試 IGBT 模塊和驅(qū)動(dòng)的性能,獲取 IGBT 穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)過(guò)程中的主要參數(shù),用以評(píng)估IGBT 模塊和驅(qū)動(dòng)的性能,并進(jìn)行電路參數(shù)的優(yōu)化。 - 具體包括測(cè)試 IGBT 的實(shí)際工況、開關(guān)損耗、關(guān)斷電壓尖峰、開關(guān)暫態(tài)震蕩情況、二極管反向恢復(fù)電流、雜散電感影響、吸收電路影響、 短路保護(hù)功能等, 可以通過(guò)測(cè)試進(jìn)行優(yōu)化柵極電阻 RGON 和 RGOFF 參數(shù)、吸收電路參數(shù)、開關(guān)頻率設(shè)置等,并可以進(jìn)行 IGBT 模塊的并聯(lián)和串聯(lián)實(shí)驗(yàn)。
- 采用先發(fā)布的12 bit 示波器:正確反映波形的 細(xì)節(jié),并準(zhǔn)確計(jì)算出參數(shù)
- 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng),解 決SIC/GAN的測(cè)試難點(diǎn)
- 高帶寬的電壓和電流探測(cè),彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對(duì)SIC/GAN 的測(cè)量要求
- 可以滿足上/下管測(cè)試,避免頻繁連接探頭
- 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展
- 器件驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)支持SIC/GAN器件
- 系統(tǒng)帶寬:>400MHz
-系統(tǒng)可以定制
軟件特點(diǎn):
-測(cè)量參數(shù)齊全:開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù) 參數(shù)
-支持器件類型多:?jiǎn)喂?模塊,MOSFET、IGBT、 FWD、GTR…
-測(cè)試方式:?jiǎn)蚊}沖、多脈沖
- 離線數(shù)據(jù)分析:既可以在線測(cè)量,也可以記錄數(shù)據(jù) 離線分析
- 測(cè)試UI符合工程師的使用習(xí)慣
- 測(cè)量項(xiàng)目及器件支持?jǐn)U展