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廣州貝拓科學技術有限公司（原廣州貝拓儀器設備有限公司）是一家致力于向高科技企業、科研機構及高校提供*實驗分析儀器、設備的供應商。我們不僅僅提供產品，我們還可以幫助客戶在檢測、分析和生產過程當中得到*、可靠的技術服務和解決方案。

從成立的那一天起，我們就把“Touch the future”作為公司*發展的核心理念。我們的客戶是各自行業的技術者；我們代理的品牌是享譽的品牌，產品的質量和技術性能早已贏得業界和用戶的*和信賴，部分產品更是在其領域成為技術的，如: betop貝拓科學自主產品接觸角測量儀、光學膜厚儀；AUCUMA澳柯瑪；普析通用XRD，XRF；HITACHI日立熱分儀、紫外可見光、差示掃描量熱儀；中國臺灣OTO光纖光譜儀；德國WITec的拉曼光譜儀、近場光學（SNOM）；Anasys的納米紅外光譜儀；Andor的CCD、光譜儀；FEI掃描電子顯微鏡；美國PROTO；OXFORD的低溫恒溫器、臺式核磁、AFM；AMETEK旗下輸力強（Solartron)和普林斯頓的電化學工作站；LEICA 顯微鏡系統；顯微鏡和電鏡前處理設備等等。

我們的優勢和專注點集中于材料測試方面，其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。

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產品簡介在線詢價

薄膜厚度檢測儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

薄膜厚度檢測儀產品詳情

產品介紹

價格區間	面議

薄膜厚度檢測儀產品特點

快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

薄膜厚度檢測儀應用案例

應用領域

半導體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS，SOI等） LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等）觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

汽車(防霧層、Hard Coating DLC等）醫學（聚對二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等）

技術參數

型號	TF200-VIS	TF200-EXR	TF200-DUV	TF200-XNIR
波長范圍	380-1050nm	380-1700nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范圍	50nm-40um	50nm-300um	1nm-30um	10um-3mm
準確度¹	2nm	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90°	90°	90°	90°
樣品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
測量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm	2mm
是否能在線	是	是	是	是
掃描選擇	XY可選	XY可選	XY可選	XY可選

關鍵詞：觸摸屏

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