CAF測試系統 HAST半導體芯片BiasHAST測試
CAF是指印制線路板內部在電場作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸的導電性金屬鹽構成的電化學遷移。它通常發生在印制線路板基材中沿玻璃纖維到樹脂的界面上，從而導致兩個相鄰的導體之間絕緣性能下降甚至造成短路，是印制線路板產生電氣故障的一個重大而且具有潛在危險的根源。
CAF測試系統 HAST半導體芯片BiasHAST測試
CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸材料等領域，以確定其中可能存在的有害離子的遷移情況，以保證產品的安全性和合規性。
隨著電子設備在智能化的方向及小型化、輕量化迅速發展，印制線路板的線路也越來越細，間距越來越小，絕緣層越來越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質量與可靠性測試中，CAF的測試也就變得越來越重要。
可與 HAST高加速老化試驗箱配合使用，主要用于產品導通電阻性能驗證。更好的保證您PCB檢測的精度和可靠性。
隨著電子設備在智能化的方向及小型化、輕量化迅速發展，印制線路板的線路也越來越細，間距越來越小，絕緣層越來越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質量與可靠性測試中，CAF的測試也就變得越來越重要。
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