激光誘導擊穿光譜(LIBS)是一種激光激發的原子發射光譜探測技術。可以對固相、液相和氣相基體中幾乎所有元素進行定性或定量分析。LIBS在檢測過程中無需進行復雜的樣品制備。LIBS采用脈沖激光將樣品激發至等離子態，用光纖光譜儀探測分析樣品發射的相應光譜。樣品光譜波長與樣品的種類相關，而光譜強度和樣品的濃度相關。為了實現LIBS窄光譜探測需求，必須使用由多個高分辨率高靈敏度光纖光譜儀所組成的光纖光譜儀組。 高利通所生產的MISP03P高分辨率高靈敏度光纖光譜儀組正是滿足LIBS使用要求的，客戶可以利用該MISP03P光纖光譜儀組，高效地進行LIBS光譜技術的開發與集成。
• 的M光學結構、光柵分光、高性能光電探測器和SMA905光纖接頭
• Micro-USB接口和RS232接口與電腦相連，由電腦控制或供電
• 的軟件功能，自動配置光譜儀、自動讀取校準系數、光譜采集與測量、日志和顏色條顯示的功能
• 光譜測量功能包括輻射、透過率、吸收率和反射率測量等
• 適合于工業控制的軟件接口
• 批量生產工業級光纖光譜儀特性：優異的一致性、穩定性和可靠性
| 項目 | 指標 | 備注 |
| 光纖接口 | SMA905 | |
| 入射狹縫 | 10、25、50、100μm | 按需求選擇 |
| 波長范圍 | 190-320nm、320-430nn、430-580nm、580-705nm、705-925nm、925-1100nm | 按需求選擇組合 |
| 光譜分辨率 | FWHM 0.14nm@Hg253nm@10μm狹縫FWHM 0.12nm@Hg365nm@10μm狹縫FWHM 0.13nm@Hg435nm@10μm狹縫FWHM 0.16nm@Hg577nm@10μm狹縫FWHM 0.21nm@Hg763nm@10μm狹縫FWHM 0.21nm@Hg912nm@10μm狹縫 | 與波長和狹縫有關 |
| 探測器 | 高性能探測器 | 按需求選擇 |
| 探測器聚光鏡 | 有 | 按需求選擇 |
| 信噪比 | 300:01:00 | 室溫下測量 |
| AD轉換的分辨率 | 16bits | |
| 積分時間 | 1ms-15min | |
| 功耗 | 5V@100mA | |
| 觸發模式 | TTL對外觸發和接收外部TTL觸發 | 按需求選擇 |
| 通訊接口 | USB或RS232 | |
| 光譜儀自動配置 | 自動配置讀標定參數和產品信息等 | |
| 數據輸出 | 灰度值隨波長或像素變化 | |
| 數據平均 | 1-100次 | 光譜儀底層平均 |
| 數據截取 | 1-4096像素 | 可傳輸數據段 |
| 操作軟件 | SPEC-GLA600（高利通） | |
| API | glaDevSys | |
| 尺寸 | 97mmx81mmx31mm | 單個光譜儀 |
| 重量 | 120g | |
| 固定螺孔 | 底部4xM3螺孔 | |
| 工作溫度 | -10℃-50℃ | |
| 儲存溫度 | -20℃-70℃ |
