ITIP是Inframet設計生產的用于測試像增強器的測試系統。 它是一個用于測試像增強器的圖像質量參數，光度參數，電氣參數和時間參數的準通用測試系統。
測試系統投影標準的靶標圖形到被測試的像增強器的光陰極面，進而測試像增強器熒光屏輸出的標準靶標圖形。測試系統通過亮度精確可控的照射像增強器光陰極面以及測試熒光屏輸出的亮度，計算機系統對圖像投影塊和測量工具的數據進行處理，最終計算得出結果。
測試能力：
1.圖像質量參數：分辨率（中心，邊緣，高電平）、調制傳遞函數（MTF）、信噪比（S/N）、光暈、有效陰極直徑、暗亮點、輸出亮度均勻性、輸出亮度、對準、失真、多模式噪聲、多邊界噪聲、圖像倒置，放大率。
2.光度參數：亮度增益、飽和度（輸出亮度）、EBI（可選光電陰極發光靈敏度和輻射靈敏度）。
3.電學參數：電流消耗、功耗
4.時間參數：上升時間、衰減時間和磷光衰減時間。
產品特性：
1.計算機化測試系統。半自動便捷化測量上述參數。
2.支持測試II、III和IV代像增強器。
3.支持18mm、25mm和16mm像增強器的測試。
4.可以提供不同版本的ITIP測試系統，提供不同的測量能力。
產品參數
表1版本列表
版本 | 測量參數表 | 測試系統模塊 |
ITIP/A 基本成像測試 | 分辨率，信噪比 | BM-IP/A基本模塊、MI顯微鏡、VMI視頻顯微鏡、桌面平臺VPC、可移動機械裝置MHB、一套3個支架、PC機、圖像采集卡、TAS-IP/A計算機程序、ITS計算機程序、LP1亮度探頭 |
ITIP/B 擴展成像測試 | 分辨率（中心、外圍、高電平）、MTF、信噪比、瑕疵（暗點和亮點）、有效陰極直徑、畸變、輸出亮度不均勻、圖像對齊、功耗、電流消耗 | BM-IP/B基本模塊、MI顯微鏡、VMI視頻顯微鏡、DCI攝像機、桌面平臺VPC、可移動機械裝置MHB、一套3個支架、PC機、圖像采集卡、TAS-IP/B計算機程序、ITS計算機程序、MC程序 |
ITIP/C 基本成像/光度測試 | 分辨率（中心、外圍、高電平）、MTF、SNR、光環halo、電流消耗、亮度增益、輸出亮度 | BM-IP/C基本模塊、MI顯微鏡、VMI視頻顯微鏡、桌面平臺VPC、可移動機械裝置MHB、一套3個支架、PC機、圖像采集卡、TAS-IP/C計算機程序、其顯示計算機程序、MC程序、LP1亮度探頭 |
ITIP/D 擴展成像/光度測試 | 分辨率（中心、外圍、高電平）、MTF、瑕疵（黑點/固定圖形噪聲）、SNR、輸出亮度均勻性、光環halo、有效陰極直徑、圖像對齊、畸變、圖像反轉、放大率、功耗、亮度增益、輸出亮度、EBI | BM-IP/D基本模塊、MI顯微鏡、VMI視頻顯微鏡、DCI攝像機、桌面平臺VPC、可移動機械裝置MHB、一套3個支架、PC機、圖像采集卡、TAS-IP/D計算機程序、ITS計算機程序、MC程序、LP1亮度探頭、LP2亮度探頭 |
ITIP/E
| 同D，但具有額外的光靈敏度和輻射靈敏度 | BM-IP/D基本模塊轉換為BM-IP/E版本，附加CP電流探頭，高壓高壓電源，三個裸管支架 |
