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公司介紹主營產品

廣州四探針科技有限公司組建于一九九八年。多年來，在社會各界的支持和全體員工的不懈努力下，我們在半導體材料專用測試儀器銷售領域建立起很高的度和信譽度，現已擁有完善的市場體系、營銷管理體系和客戶服務體系。我們的宗旨是致力于測試和測量科技的溝通與倡導，用誠摯的服務幫助用戶提高工作效率和能力，并通過積極的奮斗與追求，為自身發展營造機會、利潤與能量。本公司的產品是以自主研制產品為主兼代理銷售其它國內外半導體測試儀器公司的產品。滿足各行業的不同需要，儀器和配件系列已廣泛應用于半導體材料、太陽能電池、功能材料、電子器件的生產單位、科研院所和高等院校。主要產品：四探針測試儀、方塊電阻測試儀、導電類型鑒別儀、單晶少子壽命測試儀、CV電容電壓特性測試儀、恒流源、探針測試臺，探針頭、測試軟件、按用戶需求提供相應測試解決方案。用戶是我們生存的基礎。我們對用戶的態度是積極負責。我們憑借完整的管理體系了解和總結用戶的需求，并將我們的服務在沒有任何折扣的條件下直接送達，與其共同感受科技帶給我們的高效和快捷。我們決不辜負用戶對我們的信任，以充分發揮和完善我們基于制造商、用戶之間的橋梁作用。本公司在市場日益走向世界化的今天，全體員工各盡所長，相互合作，秉承“客戶滿意、服務快捷、創新進取、永續經營”的經營宗旨，以確保用戶得到更優質的產品和更高質量的服務

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產品簡介在線詢價

CV-5000型電容電壓特性測試儀在集成電路特別是MOS電路的生產和開發研制中，MOS電容的C-V測試是極為重要的工藝過程監控測試手段，通過C-V測試達到優化生產過程中的工藝參數，提高IC成品率

CV-2000電容電壓特性測試儀產品詳情

CV-5000

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電

容

電

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測

試

儀

在集成電路特別是MOS電路的生產和開發研制中，MOS電容的C-V測試是極為重要的工藝過程監控測試手段，通過C-V測試達到優化生產過程中的工藝參數，提高IC成品率。
MOS（金屬－氧化物－半導體）結構的電容是外加偏置電壓的函數，MOS電容隨外加電壓變化的曲線稱之為C-V曲線（簡稱C－V特性）。C-V曲線與半導體的導電類型及其摻雜濃度、SiO2-Si系統中的電荷密度有密切的關系。利用實際測量到的MOS結構的C-V曲線與理想的MOS結構的C-V特性曲線比較，可求得氧化硅層厚度、襯底摻雜濃度、氧化層中可動電荷面密度、和固定電荷面密度等參數。
另外作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN結勢壘區變寬，勢壘電容變小。

CV-5000型電容電壓特性測試儀是測試頻率為1MHz的智能化數字的電容測試儀器，既可用于測試半導體器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可進行Mos電容的外加電壓掃描測試，還可測試其它MIS電容。

該電容電壓特性測試系統由主機和上位機（PC）組成，并在軟件控制下完成校準及測試等功能，同時顯示C-V電容電壓特性曲線。主機面板上的發光二極管指示儀器的工作狀態，用數碼管組成的顯示板，將被測元件的數值，小數點清晰地顯示出來。儀器有較高的分辨率，電容量是五位讀數，可分辮到0.001pF，偏置電壓分辨力為0.1V，漏電流分辨力為0.01uA。

儀器配有專用CV-5000型測量座，接插元件靈活，方便可靠。

CV-5000型電容電壓特性測試儀軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，程序操作直觀易用。測試程序在計算機與CV-5000型電容電壓特性測試測試儀連接的狀態下，通過計算機的USB口實現通訊。
測試程序控制電容電壓特性測試測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在計算機中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析。

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點擊放大圖片(C-V曲線)

技　術　指　標 ：

測試信號頻率	1.000MHz±0.01%
測試信號電壓	小于或等于100mVrms
電容測量范圍	1.000pF～5000.0pF
工作誤差	±3.0%±2字
直流偏壓	-35V～+35V(可擴展)，由軟件按設定步進電壓值輸出偏置電壓；
軟件功能	由軟件控制電壓的掃描輸出，讀取不同電壓點的電容值并在電腦中繪出電容- 電壓的變化曲線。軟件可記錄、保存、打印每一點的測試數據，也可把測試數據輸出到Excel中，對數據進行各種數據分析；
電腦通訊接口	USB通訊接口；
應用	主要應用于PN結摻雜和MOS摻雜C-V特性測量在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。
供電電源	交流電壓：220V±5%；頻率： 50Hz±5%；消耗功率：不大于40W；
工作環境	溫度：0～40℃；濕度：20%~90%RH 40℃；

下載CV-5000電容電壓特性測試儀產品資料(PDF)

實例：CV-2000電容電壓特性測試儀搭配ST-102A探針臺應用于半導體分立器件工藝監測方案

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關鍵詞：發光二極管通訊接口

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