引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

一、結構特點及讀數方式
1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。

   量程25㎜;
   最小分度（游標分度）0.0002㎜;旋轉外筒分度0.002㎜。
   位移變化讀數為：L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)   

    其中：a－內筒毫米刻線讀數
                         b－外筒刻線讀數
                         c－游標刻線讀數
                         a0 b0 c0　為相應位移變化前讀數精密微分筒

二、各項技術精度指標
    1、測量引伸計標距范圍Ｌmax 500㎜
    2、測量支座上支臂安裝孔徑 φ10;φ28
    3、微分測頭讀數內筒軸向刻度 0.5㎜/格
    4、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002㎜/格
    5、微分測頭讀數外筒園周刻度 0.002㎜/格
    6、高精密微分測頭精度指標

標定儀示值誤差：
   量程0.5㎜以內≤0.5μm 誤差
   量程0.5㎜以上≤0.10% 逐點相對誤差

參照標準：
JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范
ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定
JJG762-1992 引伸計檢定規程
可進行0.5級引伸計的標定

三、使用說明
   請依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，進行引伸計的檢定：
      1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
      2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間;調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸;調整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。
      3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：

    檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。