YAMABUN山文電氣臺式離線光學膜厚度測厚儀
檢測材料：電子·光學用透明平滑薄膜、多層薄膜，光學膜
YAMABUN山文電氣臺式離線光學膜厚度測厚儀
檢測材料：電子·光學用透明平滑薄膜、多層薄膜，光學膜
YAMABUN山文電氣臺式離線光學膜厚度測厚儀
實現高測量重復性（±0.01μm以下，根據對象物及測量條件）
不易受溫度變化的影響
研究·檢查用的離線類型、制造工序中使用的在線類型都可以制作
因為是反射型，所以可以從薄膜一側進行測定
只能測定透明涂布膜層（根據測量條件）
光學膜測厚儀的主要作用如下：
測量薄膜厚度：光學膜測厚儀能夠直接檢測出物體透明或者半透明涂層的厚度1。
非接觸式測量：因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品5。
快速準確：測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品5。
多層膜測量：可測量3層以內的多層膜5。
適用性強：根據用途可自由選擇手動型或自動型。產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品5。
適用場景廣泛：光學膜測厚儀適用于大學、研究室等場所5。
綜上所述，光學膜測厚儀在工業生產和科學研究中發揮著重要作用。隨著技術的不斷進步和應用領域的拓展，光學膜測厚儀將繼續發揮重要作用，推動相關領域的發展和創新。
光學膜涂布、太陽能晶圓、超薄玻璃、膠帶、光阻等測量。應用在涂膠工序時，該設備可放置于涂膠池后、烘箱前，在線測量涂膠的厚度；也可以在線測量離型膜涂布的厚度。應用甚廣，尤其適合厚度要求達到納米級的透明多層物體的厚度測量。
