Agilent安捷倫86038B光色散和損耗分析儀
描述
Agilent 86038B光色散和損耗分析儀集速度與精度于一身，可實現完整的光纖及元件測量，是開發和生產用理想設備。 其測量基于行業標準的調制相位轉換（MPS）法，由于該測試系統的結構是模塊化的，用戶還能定制其所需的配置方式以滿足測試所需。
通過一次性對器件的連接，只需鍵一下按鈕，86038就能測量光譜群延遲（GD）、色散（CD）、差分群延遲（DGD）、偏振模式色散（PMD）、插入損耗或增益（IL），以及偏振相關損耗（PDL）。此外，它還能進行非常精確的光纖長度測量。 另外，高級矩陣分析還提供二階偏振模式色散功能。
86038B可用于各種波長選件，從而提供*的從1260至1640 nm波長的精確測量；與Agilent 81600B可調諧激光源選件一同使用，還可對單束激光進行高達200 nm范圍的測量。安捷倫可提供快速掃頻波長測量的所有參數。
86038B的主要應用包括：網絡設備的設計和生產、特別是10 Gb/s和40 Gb/s傳輸設備；光纖制造、特別是當今用于CWDM系統的全頻光纖；用于高速傳輸系統的色散補償模塊、光纖及DWDM濾波器的設計和生產。
- 具有色散和損耗測試的全面特征，依賴波長和偏振，采用行業標準MPS方法
- 可確定光譜GD、CD、DGD、PMD、IL、PDL，分析二階PMD、GD波形、零色散波長和CD 斜率，并準確地確定光纖或設備長度
- 提供快速掃頻波長測量的所有參數
- 借助部分選件，其zui廣泛應用的波長范圍可達1260-1640 nm，其中單*個選件就能實現高達200 nm頻段的掃描
- 為可選模塊轉換提供集成支持，用于多端口測試
- 提高了IL和PDL的精度，可用于重要元件測試
- 模塊化的靈活特性，配有具有LAN、USB和GPIB接口的Windows操作系統，以及具有遠程控制能力
