yb6600半導體特性圖示儀簡介
yb6000軟件配合yb6600半導體特性圖示儀測試主機使用，可自動生成功率器件的i-v曲線。在失效分析中有廣泛的應用。yb6600是一款很具有代表性的晶體管圖示儀，yb6600是專業的測試儀器。可快速形成特性曲線。目前在iqc來料檢驗，失效分析等部門有廣泛的應用。
yb6600特點
- yb6600測試應用在各大量生產、質量控制和zui終的測試。基于windows 軟件，我們的測試程序有很高的穩定性，操作快捷簡單
- 高速單面檢測
- 混合多重測試設備能力
- 2kv
- 1na到50安培標準，100安培可選
- 0.1na resolution 0.1na分辨率
- *的自我測試
- 自動校準
- rdson to 0.1mohm分辨率
- windows應用軟件
- 可選擇特性曲線
- mosfet, igbt, j-fet
triac, scr, sidac, diac, quadrac, sts, sbs
transistor, diode, opto, zener
regulator, mov, relay - 快速的數據收集
yb6600曲線跟蹤特點
品種繁多的曲線
可編程的數據點對應
增加線性或對數
可編程延遲時間可減少器件發熱
保存和重新導入入口程序
保存和導入之前捕獲圖象
曲線數據直接導入到excel
0曲線程序和數據自動存入excel
程序保護zui大電流/電壓,以防損壞
yb6600圖形特征/工具
局部曲線放大
轉換成log或線性
數據點曲線
支持曲線縮放
打印圖表
自定義掃描曲線
存儲圖表
yb6600標準特性曲線:
1、mosfet（n-channel＆p- channel）（金屬-氧化物-半導體 場效應管）
id vs vds （在vgs范圍內）
id vs vgs （在一個固定的id）
is vs vsd
rds vs vgs （在一個固定的vds）
rds vs id （在vgs范圍內）
2、晶體管（transisitor）
hfe vs ic
bvce（o.s.r.v） vs ic
bvebo vs ie
bvcbo vs ic
vce（sat）（在一定的ic/ib比率）
vce（sat） vs ib（在ic的范圍內）
vbe（sat） vs ib （在一定的ic/ib比率）
vbe（on） vs ic （在一定的vce）
3、igbt（n-channel＆p- channel）（絕緣柵雙極晶體管）
ic vs vce （在vge范圍內）
ic vs vge （在一定的vce）
ices vs vce
if vs vf
4、diode （二極管）
if vs vf
ir vs vr
5、zener （穩壓管）
if vs vf
ir vs vr
6、triac （雙向可控硅）
it vs vt（+/-） （在一個固定的ig）
7、scr （單項可控硅）
it vs vtm （在一個固定的ig）
8、ssvop（固態過壓保護器）
it vs vt（+/-） （在一個固定的ibo）
9、sidac（高壓觸發二極管）
it vs vt（+/-） （在一個固定的ibo）
10、diac（雙向觸發二極管）
id vs vf（+/-）
11、regulator（穩壓器）
electronic load vs v out（在一個固定zui大電流）
12、j-fet（（n-channel＆p- channel）） （結型場效應管）
id（off） vs vds（在vgs范圍內）
id（off） vs vgs（在一個固定的vds）
id（on） vs vds（在vgs范圍內）
id（on） vs vgs（在一個固定的vds）
13、curve tracer mode only（曲線跟蹤模式）
ic vs vce（在一個固定的ib）
