引伸計標定儀 型號:BF526-GWB-2000庫號：M131410   查看hh GWB-2000型 引伸計標定儀 說明GWB-2000型 引伸計標定儀，是一種純機械式的精度位移測微儀器。依據JJG762-2007引伸計檢定規程及JJF1096-2002引伸計標定器校準規范的要求，用于對各類引伸計的標定，也用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。 一、結構特點及讀數方式1、本儀器由微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特-殊需要，配置用配件進行微變形量計量。2、微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及高螺紋付組成。其量程25㎜；分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。 位移變化讀數為：L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)其中：a－內筒毫米刻線讀數b－外筒刻線讀數c－游標刻線讀數a0 b0 c0　為相應位移變化前讀數 微分筒 二、各項精度指標1、測量引伸計標距范圍Ｌmax 500㎜2、測量支座上支臂安裝孔徑 φ10；φ28 3、微分測頭讀數內筒軸向刻度 0.5㎜/格4、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002㎜/格5、微分測頭讀數外筒園周刻度 0.002㎜/格6、微分測頭精度指標 標定儀示值： 量程0.5㎜以內≤0.5μm 絕-對 量程0.5㎜以上≤0.10% 逐點相對 參照標準：JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定JJG762-2007 引伸計檢定規程 可進行0.5級引伸計的標定 三、使用說明 請依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，進行引伸計的檢定：1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。2、調整兩測量支臂的位置，有適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣同軸；調整測微頭與下底座的距離，以測微頭的行程。調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許滑動或松動。3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試： （1）檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的參數決定。例如，使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2數據，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。 （2）對檢的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內，檢定10點，即每0.1㎜檢一點。 （3）檢定引伸計-時一定用整數刻度倍讀法，不要用游標估算讀數或小數尾數讀數，因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲-勞，估算讀數或小數尾數 讀數會加劇測量的產生。而整數單刻線對整讀法清-晰簡單準確，即便出現也會及時發現，因為整數刻度倍讀數的，其引伸計值也會成倍數增加，這種會被及時發現。4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計-時，無法該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱插入主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。 四、隨本儀器配有測量附件1、組合校準桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。2、刀片2件。裝置于組合校準桿上：用于COD或JIC夾規檢定。3、橫試片2件。裝置于組合校準桿上：用于橫向引伸計的檢定。4、板件2件。裝置于組合校準桿上：用于模擬板材試樣的檢定。5、φ10×100桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。6、φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。7、φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。8、φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。9、170㎜加長立柱1件。用于延長標定儀高度。10、聯接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上，連接分離試樣進行檢定。11、為調試及安裝方便，隨儀器配有14號呆扳手一把、3號內六角扳手一把、一字頭、十字頭螺絲刀各一把。 測量附件 五、維護與保養1、上、下支臂拆裝時，應防-止定位釘或鋼球的脫落，抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。2、儀器出廠時微分頭精度已調校，使用中不得自行拆卸。3、應在清潔無塵環境使用，并注意隨-時保持儀的清潔無塵。4、注意防-止外力損-傷及銹蝕的產生。5、定期交有關計量部門復檢。