電線電纜金屬導體電阻率測試裝置 型號：DP-EWC-2
本測試裝置是根據際電工委員會（IEC）468和標GB3048.2—94的規定而研制成功的,是測定電線電纜金屬導體電阻率性能的裝置,其性能全符合GB3048.2—94要求,是集電子、微處理機、自動檢測和新型樣品夾持裝置于體的 化新產品
電線電纜金屬導體電阻率測試裝置 型號：DP-EWC-2
電線電纜金屬導體電阻率測試裝置 型號：DP-EWC-2產品簡介
本測試裝置是根據際電工委員會（IEC）468和標GB3048.2—94的規定而研制成功的,是測定電線電纜金屬導體電阻率性能的裝置,其性能全符合GB3048.2—94要求,是集電子、微處理機、自動檢測和新型樣品夾持裝置于體的 化新產品，解決了傳統檢測中由于單臂雙臂電橋而產生的操作繁瑣，平衡費時，人工計算、工作效率低等問題，采用了的精度的電流—電壓降四端子測量法，消除了連接導線電阻和接觸電阻所帶來的誤差，可以精度地測定實心銅鋁及其合金導體材料的體電阻率，質量電阻率以及單位長度電阻。
本測試裝置為綜合性測試系統，為測試臺結構，主要由的樣品夾具，精度數字電壓表、寬量程穩定直流恒定電流源，微處理機系統等部分組成，樣品夾具由殊導電合金加工而成，接觸良好，導電性能好，有快和慢功能，具有定位精度等點，適合用于從φ0.1mm—φ40mm寬范圍導體的調節和夾持，精度數字電壓表靈敏度、測量范圍由0.1μV—2V,精度達0.05%，用LED 4 1/2位數字顯示，大功率恒流源電流輸出范圍寬從10μA—15A，恒定電流輸出穩定性好，精度達0.05%，微處理機系統由主機、鍵盤、顯示終端和打印機組成。
本裝置采用的人機對話，屏幕菜單提示，自動行溫度修正，自動計算電阻率和誤差，本裝置具有測試精度、操作方便，屏幕顯示、人機對話、自動行數據處理打印等點，適合于各電線電纜廠，合金材料廠、等院校、科研單位對金屬導體材料的研究和檢測之用，可測量導線每米長度電阻、體電阻率和質量電阻率。
電線電纜金屬導體電阻率測試裝置 型號：DP-EWC-2儀器主要指標：
、測量范圍：電阻：6.7×10-9--105Ω
線材直徑：φ0.1mm—φ40mm
二、測量誤差：在φ0.1mm—φ1mm線徑范圍，誤差為±0.15%
在φ0.1mm—φ40mm線徑范圍，誤差為±0.25%
三、設備
（） 測試控制臺：為臺式結構，載放儀器電氣箱計算機系統及測試架供試驗測量用，備有抽斗，記錄板等附件。
（二） 測試架：作為每米長度電阻導線的測試架，標尺誤差：1000±0.2mm
用夾具：具有慢和快夾緊裝置，電位夾頭具有微調裝置，可夾緊導線直徑φ0.1mm—φ40mm
（三） 主機
1． 數字電壓表
量程：2mV、20 mV、200 mV、2V
分辯率：0.1μV、1μV、10μV、100μV
量程誤差：2mV檔：±（0.1%讀數+6字）
20mV、200mV、2V檔：±（0.1%讀數+2字）
2． 直流恒定電流源
量程：10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA
誤差：±（0.1%讀數+2字）
電流調節：0--100 mA、連續可調
3． 電阻顯示
4 1/2位LED數字顯示0—19999
電阻單位、小數點過載自動顯示
4． 單片微機及PC接口
（四） 大功率直流恒流源
1． 量程：1A、10A、15A
2． 電流誤差：±（0.1%讀數+2字）
3． 電流調節：電流為固定輸出
（五） PC微處理機系統
1． 鍵盤：標準鍵盤
功能：能輸入試驗日期、編號、溫度、導線直徑、每米導線稱重值、測量方法、試樣來源及規格
2． 數據處理功能：由導線直徑計算導線的截面積
由導線重量計算導線的質量
輸入試驗溫度計算溫度修正系數
計算導線的電阻率（20°C）
計算樣品測量次數的平均電阻值率
3． 顯示：CRT屏幕顯示
采用菜單式提示操作程序，達到人機對話，顯示測量結果
4．打印機：由打印機打印出測試結果及數據
電纜半導電屏蔽層電阻測試儀/電纜電阻測試儀 型號：DP-BT-900A
DP-BT-900A型電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀是根據標GB11017-89所規定的測試方法和指標而的，用來測試壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻
儀器由電氣箱和測試架兩大部分組成，測試架具有夾持加壓機構，能夠良好地夾緊各種不同直徑的屏蔽電纜，具有環形準確度達0.3%的電位電和電流電確保儀器取樣位置精度、使用方便、外形輕巧，適應在常溫和恒溫箱中測量。電氣箱具有精度的數字電壓表，測量范圍10μV—2V。穩定性的直流恒定電流源，輸出電流從0.1μA—10mA連續可調，測量電阻率范圍寬為10-104Ω·m ,測量電阻值，直接數字顯示：單位、小數點也都自動顯示，儀器還有性轉換和自校功能。
本儀器適合電纜研究，電纜廠，對于壓交聯電纜半導電屏蔽層電阻率的測試是具備的測量手段
指標：
1． 測量范圍 電阻率 10-5--104Ω·m；電阻10-3--107Ω
2． 測量精度 ±(0.5%讀數+2字) 20MΩ量程±(3%讀數+2字)（在0.1mA、2V時）
3． 電壓量程 20 mV、200 mV、2V
4． 測試電流 0.1μA、1μA、10μA、100μA、1mA、10mA
5． 顯 示 3 1/2 位LED數字顯示0---1999、單位、小數點、性自動顯示
6． 測試架 電纜導電屏蔽層直徑：10mm—35mm
電纜緣屏蔽層直徑：50mm—140mm
電位電間距：50mm±0.25mm
電流電與電位電距離>25mm
備有13付內屏蔽電位電和電流電
7．尺寸 電氣箱：360mm×420mm×120mm
測試架：202mm×162mm×319mm
半導電橡塑材料電阻溫測試架/電阻溫測試架 型號：DP-DB-4/DB-5
測試架是與本公司的DP-DB-4型電線電纜半導電橡塑電阻測試儀的配套產品。DP-DB-4儀器是檢測半導電橡塑材料在23°C時的電阻率值，配上本測試架后可以擴展功能，將本測試架放入烘箱，可以檢測該材料在0~180°C溫下，電阻率變化值。
本測試架有以下點：
1、 性能全符合標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電、電壓電，及加壓系統，樣品盒緣強度大于1012Ω。
2、 投資少具有標準接口，能與DP-DB-4型電線電纜半導電橡塑電阻儀配套使用，能滿足新老用戶的要求，凡以前已購買了DP-DB-4儀器的用戶不必再買儀器烘箱了，應用原有儀器設備省錢省事。
3、 工作可靠，工作溫度范圍大采用強度緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究分子材料在90~120°C乃至180°C溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。
4、 操作簡單，使用方便，壽命長。
附注：DP-DB型電線電纜半導電橡塑電阻測試儀于1985年通過全鑒定，是全依照標GB3048.3-83的要求行的，在20多年運用中，儀器幾經改，全又有200多家電纜廠、粒廠、研究所、大學購買了本儀器，經過漫長歲月的考核使用后，實踐充分證明本儀器，測量精度，性能穩定可靠，使用操作方便，是內*符合GB3048.3要求的儀器，深受內外各交聯電纜廠，分子材料廠，半導電橡膠廠，校研究所的歡迎，是半導電材料體電阻率性能研究時的儀器設備
電線電纜半導電橡塑電阻測試儀/電阻測試儀 型號：DP-DB-4
DP-DB-4電線電纜半導電橡塑電阻測試儀是根據家標準GB3048.3—94研究成功的測量設備，主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，若換上殊的四端子測試夾，還可以對金屬導體材料及產品的低、中值電阻行測量
經過了十多年的實際運行，全近百家主要電纜廠和半導電屏蔽材料廠均已采用了該儀器，它是目前全*符合家標準GB3048.3-94的測量半導電橡塑材料電阻率的儀器。
儀器為臺式結構，主要由電氣箱、測試架兩大部分組成，固定在用工作臺上，電氣箱包括靈敏的直流數字電壓表和穩定的直流恒流源，測量結果采用LED數字直接顯示，測量電流輸出也采用LED數字顯示，從0—100mA范圍內可任意調節，可達到控制測試功率損耗的規定，儀器測試架由電、壓力探頭、樣品臺及電動傳動機構組成，操作按鍵電鈕，可行半自動測量。
儀器具有測量精度、穩定性好、結構緊湊、使用方便等點，全符合際和家標準的要求。
儀器適用于電纜廠、導電橡塑材料廠、計算機廠、電子表廠、等院校、科學研究等，對于導電橡塑材料及產品的電阻性能測試、工藝檢測，是必需的測試設備。
儀器主要指標：
、 測量范圍：10-4--103Ω-cm可擴展到105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm
二、 數字電壓表：
1． 量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V
2． 測量誤差 0.2mA檔±(0.5%讀數+8字)；2mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)
3． 顯示3 1/2 位數字顯示0—1999具有性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
三、 恒流源：
1． 電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給，數字顯示
2． 量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
3． 電流誤差：±(0.5%讀數+2字)
四、 測量電：
1． 電流電：寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm，兩個電流電間的距離110mm
2． 電位電：寬度50mm，接觸半徑<>，兩個電位電間的距離20mm±2%
五、電源：220±10% 50HZ或60HZ 功率消耗<50W
六、外形尺寸（包括測試工作臺）1200×600×1050mm（長×寬×)
二探針單晶硅及多晶硅測試儀 型號：DP-GL-1
本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。
為適應大規模集成電路的迅猛發展，別是計算機芯片、內存的發展，越來越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前，在美、德等的工業家，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。
儀器符合美ASTM 《“F391-77”關于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是種新型的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠和器件廠用于二探針法測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而步判斷半導體材料的性能，指導和監視工藝操作，也可以用來測量金屬材料的電阻，儀器具有測量精度、穩定性好、結構緊湊、使用方便、型美觀等點。也可以配四探針測試頭作常規的四探針法測量硅晶體材料。
儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三部分，儀表電氣控制箱由靈敏度直流數字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩定精度恒流源和電氣控制部分組成。測量結果由大型LED數字顯示，零位穩定、輸入阻抗，并設有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測試時，具有系數修正功能，從面板輸入相應的修正系數，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結構新穎，型美觀，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點選擇步測量，也可以自由選擇固定位置測量，電活動自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉椅，測試探頭能自動升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量精度、游移率小、耐磨、使用壽命長點。同時探頭壓力恒定并且可調整，以適合不同的材料。
儀器主要指標：
1.可測硅材料尺寸：
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。
長度：100~1100mm.
2.測量方式：軸向測量，每隔10mm測量點。
3.測量電阻率范圍：10-3~103Ω-cm,可擴展到105Ω-cm。
4.數字電壓表：
（1）量 程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
（2）測量誤差：±0.3%讀數±2字
（3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>106Ω
20mV檔及以上>108Ω
（4）顯 示：31/2位LED數字顯示，范圍0~1999。
5.恒流源：
（1）電流輸出：直流電流0~100mA連續可調。
（2）量 程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
（3）電流誤差：±0.3%讀數±2字
6.二探針測試裝置：
（1）探針間距：4.77mm
（2）探針機械游移率：0.3%
（3）探針壓力：0~2kg可調
（4）測試探頭自動升降
7.二探針測試臺
（1）測試硅單長度：100-1100mm
（2）測試點間距：10mm
（3）測試臺有慢、快二種移動速度，快速移動速度為1000mm/分（均勻
手動）
8.電源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W
注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的
