【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】根據(jù)北京市地方計(jì)量技術(shù)規(guī)范制修訂計(jì)劃，《合金分析儀校準(zhǔn)規(guī)范》北京市計(jì)量技術(shù)規(guī)范已編制完成，形成征求意見稿，現(xiàn)網(wǎng)上公開征求意見，歡迎提出寶貴意見。
 

　　合金分析儀又稱手持式合金分析儀，手持式X射線熒光光譜儀，基于能量色散 X 射線熒光光譜法的原理，由 X 射線管發(fā)射出原級 X 射線照射到樣品，樣品中各元素被激發(fā)產(chǎn)生特征 X 射線，由高性能半導(dǎo)體探測器接收，由于各元素的特征譜線能量不同，從而根據(jù)能量位置及大小分辨出不同元素及其含量。儀器主要由 X 射線管、準(zhǔn)直器、探測器、數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)等組成。
 

　　本規(guī)范依據(jù) JJF 1001-2011《通用計(jì)量術(shù)語及定義》、JJF 1059.1-2012《測量不確定度評定與表示》、JJF 1071-2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》進(jìn)行編制。
 

　　在編制過程中，參考了 GB/T 32267-2015 《分析儀器性能測定術(shù)語》、GB/T36226-2018 《不銹鋼 錳、鎳、鉻、鉬、銅和鈦含量的測定 手持式能量色散 X 射線熒光光譜法》、EJ/T 684-2016《便攜式能量色散 X 射線熒光分析儀》、JB/T12962.1-2016 《能量色散 X 射線熒光光譜儀 第 1 部分：通用技術(shù)》等文件中的部分內(nèi)容。
 

　　依據(jù)JJF 1071-2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》，本規(guī)范在架構(gòu)上包括：范圍；引用文件；概述；計(jì)量特性；校準(zhǔn)條件；校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法；校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)；復(fù)校時(shí)間間隔以及附錄等內(nèi)容。
 

　　計(jì)量特性：
 

　　1.能量分辨力。2.儀器示值誤差。3.測量重復(fù)性。
 

　　校準(zhǔn)環(huán)境條件：
 

　　1.溫度：(15～35)℃；2.相對濕度：不大于 85%；3.供電電源：交流電壓(220±22)V，(50±1)Hz；4.儀器周圍應(yīng)無影響儀器正常工作的電磁場干擾；無易燃易爆物品和腐蝕性氣體存在；儀器應(yīng)置于平穩(wěn)的工作臺上，且避免陽光直射。
 

　　測量標(biāo)準(zhǔn)：
 

　　1.有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：不銹鋼成分分析國家有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，或適用于儀器應(yīng)用的其他基體有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。2.其他：二氧化錳壓片或高錳鋼圓片，或儀器規(guī)定的其他分辨力測試樣品。
 

　　校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)：
 

　　校準(zhǔn)結(jié)果應(yīng)在校準(zhǔn)證書上反映。校準(zhǔn)證書應(yīng)至少包括以下信息：a) 標(biāo)題：“校準(zhǔn)證書”；b) 實(shí)驗(yàn)室名稱和地址；c) 進(jìn)行校準(zhǔn)的地點(diǎn)(如果與實(shí)驗(yàn)室的地址不同)；d) 證書的唯一性標(biāo)識(如編號)，每頁及總頁數(shù)的標(biāo)識；e) 客戶名稱和地址；f) 被校儀器的制造單位、名稱、型號及編號；g) 進(jìn)行校準(zhǔn)的日期，如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí)，應(yīng)說明被校對象的接收日期；h) 如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性應(yīng)用有關(guān)時(shí)，應(yīng)對被校樣品的抽樣程序進(jìn)行說明；i)校準(zhǔn)所依據(jù)的技術(shù)規(guī)范的標(biāo)識，包括名稱及代號；j) 本次校準(zhǔn)所用測量標(biāo)準(zhǔn)的溯源性及有效性說明；k) 校準(zhǔn)環(huán)境的描述；l) 校準(zhǔn)結(jié)果及其測量不確定度的說明；m) 對校準(zhǔn)規(guī)范的偏離的說明(如有)；n)校準(zhǔn)證書或校準(zhǔn)報(bào)告簽發(fā)人的簽名、職務(wù)或等效標(biāo)識；o) 校準(zhǔn)結(jié)果僅對被校對象有效的聲明；p) 未經(jīng)實(shí)驗(yàn)室書面批準(zhǔn)，不得部分復(fù)制證書的聲明。
 

　　復(fù)校時(shí)間間隔：
 

　　儀器復(fù)校時(shí)間間隔建議為1年。由于復(fù)校時(shí)間間隔的長短是由儀器的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸因素所決定的，因此，送校單位可根據(jù)實(shí)際使用情況自主決定復(fù)校時(shí)間間隔。
 

　　本規(guī)范為首次發(fā)布。本規(guī)范適用于手持式合金分析儀的校準(zhǔn)。其他手持式 LIBS 光譜儀、稀土快速鑒別儀、土壤分析儀等可參照校準(zhǔn)。(更多詳情請見附件)