【儀表網(wǎng) 儀表標準】近日，國家標準計劃《精密光頻測量中光學頻率梳性能參數(shù)測試方法》編制完成并征求意見，時間截止到2023年3月17日。主要起草單位有中國科學技術(shù)大學、濟南量子技術(shù)研究院、中國科學院物理研究所、中國計量科學研究院、華東師范大學、中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所、中國信息通信研究院等。
 

　　光頻標的測量和應(yīng)用具有緊迫的時代意義,而光學頻率梳是研究超高精密量子頻率測量技術(shù)的核心技術(shù)之一,其關(guān)鍵參數(shù)的測量方法的規(guī)范統(tǒng)一對量子測量領(lǐng)域具有重要意義。此外，光學頻率梳在授時、導航、醫(yī)學檢測、乃至包括引力波探測在內(nèi)的基礎(chǔ)物理研究方面已經(jīng)展示了重要的應(yīng)用價值，基于此，部分國內(nèi)企業(yè)開始了光學頻率梳在商業(yè)推廣。光學頻率梳標準化不僅有利于行業(yè)應(yīng)用，也有利于科研發(fā)展。
 

　　在精密光頻測量中光學頻率梳通常采用一些關(guān)鍵參數(shù)來表征其性能，如重復頻率調(diào)諧范圍、載波包絡(luò)相移頻率調(diào)諧范圍、單梳齒平均功率、重復頻率的不穩(wěn)定度、載波包絡(luò)相移頻率的不穩(wěn)定度以及光學頻率梳的梳齒線寬。制訂精密光頻測量中光學頻率梳的性能參數(shù)和測試方法標準，將規(guī)范光學頻率梳的性能參數(shù)測試方法。
 

　　本標準規(guī)定了應(yīng)用于精密光頻測量任務(wù)的光學頻率梳的關(guān)鍵性能參數(shù)測試方法。適用于精密光頻測量中光學頻率梳的性能參數(shù)測試。
 

　　本標準的主要技術(shù)內(nèi)容包括:范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、符號、測試環(huán)境要求、儀器測試配置要求、測試方法。
 

　　測試儀器配置要求
 

　　a)測量設(shè)備的量程、準確度應(yīng)滿足測試要求;
 

　　b)測量設(shè)備的相應(yīng)波長與被測光學頻率梳波長相匹配;
 

　　c)測試時儀器和設(shè)備應(yīng)良好接地;
 

　　d)測試采用的電源電壓、紋波及電源噪聲等應(yīng)滿足測試設(shè)備說明書和光學頻率梳的使用要求;
 

　　e)測量設(shè)備穩(wěn)定可靠，經(jīng)檢定或校準，且計量證書在有效期內(nèi)。
 

　　本標準的實施，為我國精密光頻測量中光學頻率梳性能參數(shù)測試方法提供了規(guī)范，不僅有助于協(xié)助規(guī)范精密光頻測量中光學頻率梳的使用，更為我國光學頻率梳的研發(fā)和生產(chǎn)提供了有力支持，對我國的經(jīng)濟起到一定的促進作用。
 

　　建議保證標準文本的充足供應(yīng)，使各相關(guān)方能夠及時獲取標準文本。對于標準使用過程中容易出現(xiàn)的疑問，工作組做好必要、及時地解釋工作。針對不同的使用對象，有側(cè)重點地進行標準培訓和宣貫，以保證標準的貫徹實施。