1  測量原理
1.1  測量原理
高頻率的的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同
軸套管運行，接觸到被測介質后，微波脈沖被反射回來，
被電子部件接收，并分析計算其運行時間。
微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉換成物位信
號給出。
由于測量原理簡單，VEGAFLEX 可以不帶料調整，從
而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短，使之更
加適應現場的應用。
1.2  測量 特點
不受粉塵得影響
粉塵強烈不會對測量造成影響。
不受噪音的影響
VEGAFLEX 不受入料噪音的影響。
對于蒸汽不敏感
即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也
不受到影響。
不受介質特性變化的影響
被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量
精度。
粘附：沒有問題
在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。
應用范圍廣
測量范圍
-  棒式：可達 6 米（由于運輸原因可達 4 米，如果需
要，可選多節棒式電極）
-  纜式：可達 75 米
-  同軸管式可達 6 米（由于運輸原因可達 4 米）
過程溫度和過程壓力范圍廣泛，見“技術參數”一章。
界面測量
VEGAFLEX81, 83, 86 都可以提供用于測量液體界面的
類型，其應用區別取決于被測介質的化學特性和測量條
件的要求，詳見“技術參數”一章。
界面測量的前提條件
高頻的微波脈沖沿著測量纜或測量棒向下運行。在接觸
到介質表面的時候，一部分微波脈沖被反射回來。另一
部分微波脈沖則穿透上一層液體介質，到達兩種液體介

質的界面后被反射回來。這兩次被反射回來的微波脈沖
的運行時間均被進一步分析處理。
界面測量
1  基準面
d1  到界面的舉例（ HART －數值 1 或初始值）
d2  到上一層介質表面的舉例（ HART- 數值 3 或第 3 個數值）
TS  上一層介質的厚度（ d1-d2 ）
h1  高度 － 到界面
h2  高度 － 到上一層介質表層
L1  下一層介質
L2  上一層介質
L3  氣層
上一層介質（L2）：
• 可以為不導電介質
• 必須知道上一層介質的介電常數（需要輸入）。小
介電常數：棒式：1.6
• 上一層介質組成成分必須穩定 – 介質不能更換，混
合比例不能改變
• 上一層介質必須是同質的 – 內部沒有分層
• 上一層介質的厚度至少 50mm
• 與下一層介質的分層要明顯 – 沒有乳化層，沒有腐
化層
• 在上一層上面盡量不要有泡沫
下一層介質（L1）：
• 介電常數比上一層的至少大 10，是導電的。比如：
上一層介質的介電常數是 2，下一層的介電常數小
是 12。
氣層（L3）
• 空氣和其他氣體的混合
• 氣層 – 根據應用，不是總是存在（d2=0）