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卡片雙彎扭轉試驗機產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，柔性電子標簽等卡的彎曲和扭曲性能測試。
卡片雙彎扭轉試驗機結構及功能：該設備采用彎曲和扭曲兩種模式，采用PLC控制，觸摸屏操作，試驗次數可設置，達到試驗次數自動停機，試驗結束后，檢查卡是否有可測試的功能。
卡片雙彎扭轉試驗機本產品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫療保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列磁卡的反復彎曲扭轉試驗，主要用于大專院校、科研單位、質量檢測中心、企業單位品質檢測部門、實驗室等磁卡的物理力學性能、工藝性能的測試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。
卡片雙彎扭轉試驗機技術參數：
1. 型號：HY-IC
2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°，總扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電 壓：AC220V±5%
11.外形尺寸：L670 X W380 X H220
12.功 率：35W
13.儀器重量：70kg
標準雙向扭轉：
長邊彎曲工位數：5工位
短邊彎曲工位數：5工位
雙向扭轉工位數：5工位
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