反汽蝕UNIVER電磁閥的選型提示
UNIVER電磁閥使用中的主要問題是壽命問題（大壓差下出現的汽蝕、閃蒸、沖蝕等物理現象對閥內件的破壞）。一般結構的閥在壓差條件下僅可使用1～2個月，為了解決壓閥壽命短的問題，內外的均作了很大的努力，分別在材質和結構上做了大量的探索，形成了形形色色的產品，主要有多式壓閥、迷宮式壓閥和單座套筒負荷式壓閥等。其目的只有一個，通過減輕汽蝕、沖蝕、閃蒸等物理現象對閥的破壞，來提壓閥的使用壽命。在眾多結構中，UNIVER電磁閥壽命短這一難題，在內享有名氣。
一、UNIVER電磁閥壽命短的原因致使壓閥的使用壽命短的原因主要有兩個：汽蝕、沖蝕。閃蒸、汽蝕如果閥門上的壓差（P1-P2）大于了介質的Z大飽和壓差（△Pmax），那么就會產生閃蒸，由此再產生汽蝕，并對閥門內部及相鄰近的管道結構造成破壞。介質通過截面Z小的節流口時流速是Z大的。流速（或動能）的增加伴隨著壓力（或勢能）的大大降低。當壓力低于介質飽和蒸汽壓時，氣泡就會在介質中形成。隨著節流口處壓力的進一步下降，氣泡會大量地形成。在此階段閃蒸和汽蝕之間沒有本質的差別，但是對閥門的結構破壞的可能性卻是肯定存在的。
UNIVER電磁閥如果介質通過節流口后，壓力仍低于介質飽和蒸汽壓力。氣泡將保留在節流口后的流束中，我們稱之為閃蒸。閃蒸對閥門的閥芯會產生嚴重的沖刷破壞，其特點是受沖刷的表面有平滑拋光的外形，所示。沖刷破壞Z嚴重的地方一般是流速Z的地方，通常位于閥芯和閥座的接觸線上或附近。尤其是在小開度，節流間隙小，流速的環境下，沖蝕破壞也Z嚴重。因此，壓閥應盡量避免小開度工作。再的閥門，若長期處于小開度工作，其壽命將成倍減小。要避免小開度工作，關鍵在計算、選型，這是設計院和用戶要倍加注意的。
UNIVER電磁閥閃蒸破壞的典型外形汽蝕：另一方面，如果介質流經節流口后介質壓力恢復到介質飽和蒸汽壓力以上時，氣泡會破裂或向內爆炸，從而產生汽蝕。蒸汽氣泡破裂釋放出能量，并產生一種類似于砂石流過閥門的噪音。如果氣泡在接近閥門內的固體表面破裂，釋放出的能量會慢慢撕裂材料，留下蜂窩狀的小孔。汽蝕的破壞作用可能會延伸到鄰近的下游管道。顯而易見，從壓力恢復系數來看，恢復閥門比較容易發生汽蝕，因為它的節流口后的壓力更有可能升介質飽和蒸汽壓之上。 氣蝕破壞的典型外形閃蒸與汽蝕、沖蝕之間的關系：小開度工作時，節流口流速更快，壓力更低，介質中氣泡含量更多，因此，此時閃蒸破壞更嚴重，沖刷破壞是主要矛盾。在大開度工作時，主要矛盾是系統壓力恢復到飽和壓力以上時造成的汽蝕破壞。所以，用戶在使用壓差閥時應盡量避免小開度工作，制造的壓閥必須有較的反汽蝕措施，否則，閥很快會因汽蝕、沖蝕作用而破壞。
二一種成熟的反汽蝕壓閥現在使用Z多的壓閥從結構上劃分主要為多式壓閥、迷宮式壓閥和單座套筒負荷式壓閥等幾類。從使用情況看，它們各有，但多式和迷宮式壓內部結構比較復雜，備品備件準備及更換較難，使用上很不方便。針對這些情況，華林公司開發了單座負荷式精小型反汽蝕壓閥。該產品備品備件簡單，更換維修方便，很地解決了上述難題。1992年該產品獲得了家（號：ZL 92 2 20633.3）。（該反汽蝕壓閥結構示意如圖9-8。它采用的是“孔板+單座閥+套筒閥”三節流結構：
UNIVER電磁閥一節流--接管縮徑（①處）相當于孔板節流，約占總壓降的10%。
UNIVER電磁閥二節流--單座節流（主節流、②處）單座閥的結構，約占總壓降的30%。
UNIVER電磁閥三節流--套筒節流（③處）套筒結構，約占總壓降的60%。 氣動薄膜反汽蝕壓閥“孔板+單座閥+套筒閥”三節流結構，將通過閥門的壓降分成數個較小的壓降，每個較小壓降都確保其節流面Z小處的壓力大于飽和蒸汽壓力，避免或減輕閃蒸效應對閥的破壞作用。同時用小孔噴射型結構的套筒節流件取代常規的“導向襯套＋閥座”方式，可以**導向襯套易松落的問題，同時小孔噴射節流結構可以減少抗流對閥芯座的單邊局部破壞作用，降低節流喑音。因為小孔噴射方式承受了閥節流壓降的大部分（約60%），可以將汽蝕破壞作用由閥座遷小孔，保護了密封面，提了閥使用壽命，可達普通壓差閥的2～3倍。
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