一：鍍層測厚儀儀器品牌排名

1：美國博曼（BOWMAN）測厚儀，儀器產地：整機美國*；

2：德國菲希爾（FISCHER ）測試儀，儀器產地：江蘇南通；

3：原牛津（OXFORD）測厚儀現被日本日立（HITACHI）收購，儀器產地：上海；

4：韓國微先鋒（Micro Pioneer）X射線測厚儀，儀器產地：韓國；

5：韓國ISPX熒光測厚儀，儀器產地：部分韓國零配件，在東莞組裝；

6：江蘇天瑞X射線測厚儀，儀器產地：江蘇；

7：深圳禾苗分析儀器有限公司，儀器產地：深圳；

8：深圳華唯儀器，儀器產地：深圳。

二：市場上膜厚儀高性能、高精度儀器型號排名

1：美國博曼（BOWMAN）型號：BA-100-W，采用毛細管結構7.5um；高分辨率SDD探測器 ；

2：美國博曼（BOWMAN）型號：BA-100-M，采用毛細管結構15um；高分辨率SDD探測器 ；

3：日立（HITACHI）分析儀器型號： FT150，采用毛細管結構小于20um; 高分辨率SDD探測器 ；

4：菲希爾（FISCHER）型號： XDV-u；采用毛細管結構10-60um；高分辨率SDD探測器 ；

5：美國博曼（BOWMAN） 型號：BA-100-O；采用毛細管結構80um；高分辨率SDD探測器 ；

總結：目前市場上只有以上三家品牌：（博曼（BOWMAN）、日立（HITACHI）、菲希爾FISCHER）為應對客戶測量面積越來越小，測量精度要求越高而設計的幾款儀器，是目前市場上

*的膜厚測試儀。都采用了多導毛細管技術，以及配置了大窗口SDD硅漂移接收器，實現極小的測量斑點，高速，，穩定的測量。

三：市場上普通準直器儀器型號排名

1：美國博曼（BOWMAN）型號：BA-100-P,采用多準直器結構；硅-PIN半導體探測器（可選SDD探測器）；

2：菲希爾（FISCHER）型號：XDLM 237與XDLM-PCB220，采用多準直器結構；PC封氣比例接收器（可選SDD探測器）；

3：日立（HITACHI）分析儀器，原牛津儀器型號為：X-Strata920-AM全自動臺（CMI900的升級），采用多準直器結構；PC封氣比例接收器（可選SDD探測器）；

4：韓國先鋒Micro Pioneer 系列型號：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-2020PCB，采用多準直器結構；PC封氣比例接收器；

5：韓國ISPX熒光測厚儀型號為：ISP iEDX-150WT與iEDX-150T；采用多準直器結構，硅-PIN半導體探測器（可選SDD探測器）；

6：江蘇天瑞X熒光鍍層測厚儀、RoHS檢測儀器Thick800A 與Thick600，采用單準直器結構，PC封氣比例接收器；只是一個兼容可以鍍層測厚儀器，不專業；

7：深圳禾苗分析儀器型號為：E8-SPR：鍍層測厚儀器、RoHS檢測儀器，只是一個兼容可以鍍層測厚儀器，不專業；

8：深圳華唯儀器X熒光鍍層測厚儀、RoHS檢測儀器型號為：Ux-720，只是一個兼容可以鍍層測厚儀器，不專業。

總結：以上是目前市場上普通準直器的儀器排名，因配置了不同的探測器，所以測量精度結果、儀器壽命各不同。

以下是探測器資料，以下是性能探測器排名，PC探測器性能較低，但價格便宜，SDD性能好，價格貴。

1：封氣比例接收器（PC），壽命一般為3-5年分辨率約900eV

（比例接收器，能量分辨率很低，因為是氣體探測器，容易受環境溫濕度影響,時常出現干擾，儀器必須經常用標準片校準，目前市場上已漸漸淘汰比例接收器)；

2：硅-PIN半導體探測器（PIN）、壽命一般為10年以上，分辨率優于190eV

（搭載高分辨率的固態探測器，能量分辨率更高，測量相鄰元素更，儀器無需二次濾波器，峰位長時間保持穩定，無需頻繁地用標準片校準儀器）                   使用硅PIN探測器元素分辨率更好，有效排除元素之間的干擾。

圖例：兩種探測器對比

紅色為封氣比例接收器所獲得的譜峰，綠色為硅PIN半導體探測器所獲得的譜峰。

封氣比例接收器所獲取的譜峰重疊現象嚴重。           

3：SDD硅漂移接收器，壽命一般為10年以上，分辨率優于140eV