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半導體α、β、γ表面污染監測儀
半導體α、β、γ表面污染監測儀 探測α和β射線及γ射線的輻射監測儀表，采用硅半導體探測器。該儀表小巧輕便且探測效率高，且具有自我診斷功能、通信功能、存儲等豐富的功能。
儀器特點 半導體α、β、γ表面污染監測儀
- 采用半導體探測器，不需定期交換探測器，經濟實用
- 可進行量程廣且精度高的測量，測量范圍為0～99990 min
- 采用彩色有機EL顯示屏，其畫面明亮且寬視角，易于目視
- 測量值和時間可保存1200點
- 具有自我診斷功能
- 測量值可通過USB接口存儲到計算機
技術規范
測定射線 | α射線，β射線， |
探測器 | 硅半導體 |
有效探測面積 | 100cm2 |
顯示范圍 | 0～99990 min-1，0～9999000 counts，γ射線：BG～99.9mSv/h |
探測效率 | α射線241Am ≧20%，β 射線 90Sr-90Y ≧ 30% |
時間常數 | 1，3，10 sec，自動 |
趨式數據存儲 | 1200 點 |
數據輸出 | USB 接口 |
電池壽命 | 7 小時以上 ( 無顯示)，6 小時以上 ( 連續顯示) |
電 源 | 堿性電池5 號6 節，鎳氫充電電池（ 另選） AC100～240 V，AC 適配器（ 另選） |
工作溫度 | -5 ～ +45℃ / 23 ～ 113?F |
工作濕度 | ≤ 90 %RH ( 無結露） |
尺 寸 | 120(W)×56(H)×293(D) mm，4.7(W)×2.2(H)×11.5(D) in |
重 量 | 約 0.75 kg / 1.65 lb. ( 不含電池) |
依據標準 | IEC60325 (2002) |
