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熱輻射對(duì)疾速熱電偶的丈量的影響
拔出爐內(nèi)用于測(cè)溫的熱電偶，將被低溫物體收回的熱輻射加熱。假設(shè)爐內(nèi)氣體是通明的，并且，熱電偶與爐壁的溫差較年夜時(shí)，將因能量交流而發(fā)生測(cè)溫偏差。
在單元時(shí)光內(nèi)，兩者交流的輻射能為P，可用下式表現(xiàn)： P=σε（Tw4 - Tt4 ） ，式中 σ—斯忒藩—波爾茲常數(shù) ε—發(fā)射率 Tt—熱電偶的溫度 , K Tw—爐壁的溫度 , K 在單元時(shí)光內(nèi)，熱電偶同四周的氣體（溫度為T），經(jīng)由過程對(duì)流及熱傳導(dǎo)也將產(chǎn)生熱量交流的能量為P′ P′=αA（T-Tt）
上式中 α—熱導(dǎo)率 A— 熱電偶的名義積 在畸形狀況下，P= P′，其偏差為： Tt-T=σε（Tt4-Tw4）/αА ，對(duì)單元面積而言其偏差為 Tt-T=σε（Tt4-Tw4）/α ，因而，為了增加熱輻射偏差，應(yīng)增年夜熱傳導(dǎo)，并使?fàn)t壁溫度Tw ，盡可能瀕臨熱電偶的溫度Tt。
別的，在裝置時(shí)還應(yīng)留神： ①熱電偶裝置地位，應(yīng)盡可能避開從固體收回的熱輻射，使其不克不及輻射到熱電偶名義； ②熱電偶帶有熱輻射掩蔽套。
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