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低溫沖擊試驗設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

低溫試驗沖擊機廠家采用新的外型工藝設(shè)計、外箱采用冷軋板雙面靜電樹脂高溫噴塑，內(nèi)箱部采用SUS# 304耐高溫不銹鋼密封焊接。保溫層采用耐火級高強度PU聚氨酯發(fā)泡...

高低溫沖擊試驗箱半導體溫度運行控制系統(tǒng)如下：控制器:進口LED數(shù)顯（P、I、D＋S、S、R.）微電腦集成控制器加熱系統(tǒng):獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器制冷系統(tǒng)...

額溫槍溫度沖擊箱系統(tǒng)配置:加熱系統(tǒng):鎳鉻合金不銹管加熱器；制冷系統(tǒng):采原裝歐美進口率壓縮機；循環(huán)系統(tǒng):采日制多翼離心式循環(huán)風扇；控制系統(tǒng):韓TEMP880S原裝...

額溫槍冷熱沖擊試驗箱標配有各種保護系統(tǒng)：試驗室溫度過高、漏電斷路器、過低保護器（控制器內(nèi)置）、高、低溫室超溫保護（控制器內(nèi)置）、壓縮機超壓、過熱保護、斷水繼電保...

元器件沖擊試驗箱標配有各種保護系統(tǒng)：試驗室溫度過高、漏電斷路器、過低保護器（控制器內(nèi)置）、高、低溫室超溫保護（控制器內(nèi)置）、壓縮機超壓、過熱保護、斷水繼電保護器

體溫計高低溫沖擊試驗箱系統(tǒng)配置:加熱系統(tǒng):鎳鉻合金不銹管加熱器；制冷系統(tǒng):采原裝歐美進口率壓縮機；循環(huán)系統(tǒng):采日制多翼離心式循環(huán)風扇；控制系統(tǒng):韓TEMP880...

額溫搶冷熱沖擊試驗箱瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 借以在Z短時間內(nèi) 試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物...

三亞冷熱沖擊試驗儀器該產(chǎn)品適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性實驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備檢測，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

東莞冷熱沖擊試驗箱維修廠家用途用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉此在Z短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷...

三箱高低溫沖擊老化試驗室用途使用方法采用吊藍上下移動方式為待測產(chǎn)品進行高溫和低溫的快速切換，測試產(chǎn)品在溫度急劇變化后的性能及參數(shù)。

東莞溫度沖試驗設(shè)備尺寸大小可選擇:容積50升對應(yīng)的:寬35x高35x深40cm；容積80升對應(yīng)的:寬50x高40x深40cm；容積100升對應(yīng)的:寬60x高40...

三箱高低溫沖擊老化試驗箱特點：◆采用伺服冷媒流量控制技術(shù)有效達到節(jié)能40%以上；◆實驗循環(huán)進行，有效達到3天除霜次，除霜只需2小時；◆采用純鋁翅片蒸發(fā)器，有效降...

電子器件沖擊箱產(chǎn)品特點：1.可程式冷熱沖擊試驗箱為新能源汽車電池、電工電子等高低溫沖擊試驗箱設(shè)備，可非標定制2.冷熱沖擊試驗箱箱體采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，箱體占...

中山冷熱沖擊試驗箱分為三箱式和兩箱式是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以...

愛佩科技通信設(shè)備冷熱沖擊試驗箱主要用于測試物不可移動，或帶載測試（通電或外加測量傳感器等），測試物件置放于工作區(qū)，通過改變風道方式，將預(yù)冷室或預(yù)熱室的溫度帶入工...

愛佩科技高低溫冷熱沖擊試驗機主要用于測試物不可移動，或帶載測試（通電或外加測量傳感器等），測試物件置放于工作區(qū)，通過改變風道方式，將預(yù)冷室或預(yù)熱室的溫度帶入工作...

三亞冷熱沖擊試驗設(shè)備冷熱沖擊和高低溫循環(huán)瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 借以在短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引...

江門冷熱沖擊試驗設(shè)備特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在Z短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷...