CSK-IA試塊的主要作用

CSK-IA試塊的主要作用如下:
1.測定斜探頭入射點

2.測定斜探頭的K值

3.水平線性（時基線性）、垂直線性的檢驗

4.橫波探測范圍和掃描速度的調整

5.測定儀器和斜探頭的遠場分辨力

6.測定斜探頭聲束軸線偏離

7.縱波探測范圍和掃描速度的調整

8.測定儀器和直探頭的遠場分辨力

9.盲區的估計

10.大穿透能力估計

11.探測靈敏度的調整

CSK-IA試塊是我國承壓設備無損檢測標準NB/T47013中規定的標準試塊，其結構尺寸如圖所示。

1.測定斜探頭入射點

將探頭置于圖示位置，向R100mm的圓弧發射超聲波，前后移動探頭，直到R100mm圓弧面反射波達到點，此時與CSK-1A試塊側面標線中心點“0”相對應的探頭契塊那一點即為探頭入射點。

2.測定斜探頭的K值

根據探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進行測量，如圖所示。波形圖同于入射點波形圖。

測量時，探頭應放正使波束中心線與試塊側面平行，前后移動探頭，找到50mm孔或1.5mm孔的反射波。此時，聲束中心線必然與入射點和圓心之間的連線相重合，即聲束中心線垂直于孔表面。這時，試塊上與入射點相應的角度線所標的值即為該斜探頭的K值。

3.水平線性（時基線性）、垂直線性的檢驗

水平線性

①選擇要調校的儀器和直探頭，進行校準，校準完畢后進行下一步。

②將直探頭用探頭壓塊壓在CSK-IA試塊25mm厚的平面上，中間加適量耦合劑，調節儀器使熒光屏顯示出6次底波。

③用閘門套住一次底波，調節一次底波為滿刻度的50%，顯示讀數為深度25mm，依次為基準。

④用閘門套取二次波，并調節二次底波為滿刻度的50%，記錄深度讀數。

⑤按第4步依次記錄三次，四次，五次、六次波的深度讀數

⑥取出5次偏差值的大值Amax，水平線性偏差值B為(Amax/1.25)%。

垂直線性

①選擇要調校的儀器和直探頭，進行校準，校準完畢后進行下一步。

②將直探頭用探頭壓塊壓在DB-P  Z20-2試塊上，中間加適量耦合劑，調節儀器使熒光屏顯示出Ф2平底空回波，并置于屏幕的適當位置。

③用閘門套住Ф2平底空回波，調節回波至滿刻度的100%，此時基準增益至少有30dB的讀數。

④以每次減少2dB為準，直到衰減26dB，并記錄下回波波幅從滿刻度的下降量，填入下表，測量的準確度為0.1%。

⑤取出偏差值的大正偏差值和大負偏差值，取兩個數的值之和為垂直線性誤差，公式為：Δd=|d(+)|+|d(-)|。

4.橫波探測范圍和掃描速度的調整

由于縱波的聲程91mm相當于橫波聲程50mm，因此可以利用試塊上91mm來調整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波1:1，先用直探頭對準91底面，是B1、B2分別對準50、100，然后換上橫波探頭并對準R100圓弧面，找到回波，并調至100即可。

5.測定儀器和斜探頭的遠場分辨力

（1）探頭置于如圖所示位置，對準50mm、44mm、40mm階梯孔，使示波屏上出現三個反射波。

（2）平行移動探頭并調節儀器，使50mm、44mm回波等高，如圖所示，其波峰和波谷分別為h1、h2，其分辨力為NB/T47013-2015中規定，斜探頭的遠場分辨力大于等于12分貝。

6.測定斜探頭聲束軸線偏離

在CSK-ⅠA試塊上厚25mm的平面上，使聲束指向棱邊，對于K值小于等于1的探頭，聲束經底面反射指向上棱角；K值大于1的聲束指向下棱角，前后左右擺動探頭，使所測棱邊端角回波幅度，固定探頭不動，然后用量角器或適當的方法測量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法線的夾角（例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角），即為聲束軸線偏斜角。應當注意：斜探頭的聲束擴散角較大時，可能影響到大回波的探測，以致可能產生較大的測量誤差。

7.縱波探測范圍和掃描速度的調整

在利用縱波探傷時，可以利用試塊的已知厚度來調整探測范圍和掃描速度，此過程我往往和檢驗時基線性同步進行。當探測范圍在250mm以內時，可將探頭置于25mm厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四，十次底部回撥位于刻度十，則刻度十就代表實際探測聲程為250mm。當探測聲程范圍大于250mm時，可將探頭置于如圖的B或C處，使各次底波位于相應的刻度處，此時起始零點亦同時得到修正。

8.測定儀器和直探頭的遠場分辨力

（1）探頭置于如圖所示位置，左右移動探頭，調節增益，使顯示屏上出現85、91、100三個反射回波A、B、C如圖所示，則波峰和波谷的分貝差20Lg(a/b)表示分辨力。

（2）NB/T47013-2015中規定，直探頭遠場分辨力大于等于20dB。
9.盲區的估計

盲區是指小的探測距離，測試方法是：將直探頭置于探頭位置圖中D、E位置，測量50mm圓孔反射波。從而可以估計出盲區小于等于5mm或大于等于10mm，或者介于兩者之間。

10.大穿透能力估計

將直探頭置于探頭位置圖中F位置，將儀器個靈敏度旋鈕均置于大，測試試塊中有機玻璃塊反射波次數和后一次反射波高度。以此來估計大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

11.探測靈敏度的調整

根據AVG原理，在探頭探傷時可把R100mm圓弧面視為大平底反射，以此來調整探測靈敏度。直探頭探傷時可把厚度為25/100mm的幾個側面視為大平底處理，以此來調整靈敏度。另外，也可以根據探傷要求，儀測量1.5mm橫通孔反射波來確定靈敏度。