在M3-PALS快慢場(chǎng)混合模式相位分析技術(shù)（簡(jiǎn)稱(chēng)M3測(cè)試技術(shù)）中，高頻電場(chǎng)的轉(zhuǎn)換能夠準(zhǔn)確地測(cè)量zeta電位的平均值，但是電位分布分辨率較低；低頻電場(chǎng)的轉(zhuǎn)換可以給出更好的電位分布分辨率，但是易受到電滲的影響導(dǎo)致結(jié)果漂移；M3測(cè)試技術(shù)結(jié)合高頻、低頻電場(chǎng)轉(zhuǎn)換進(jìn)行合并分析計(jì)算，既得到準(zhǔn)確的平均zeta電位，又得到了準(zhǔn)確的電位分布結(jié)果。

其分析能力甚至還能對(duì)多電位分布的樣品進(jìn)行多峰電位分布結(jié)果的輸出，對(duì)各種納米材料、制劑的修飾、包覆、活化等工藝開(kāi)發(fā)及配方調(diào)整提供強(qiáng)有力的指引，可以為企業(yè)減少配方開(kāi)發(fā)時(shí)間，提高產(chǎn)品質(zhì)量和聲譽(yù)。

NS-90Z Plus支持有機(jī)相微納米顆粒的Zeta電位測(cè)試，選用耐腐蝕高透光性的石英玻璃比色皿搭配耐腐蝕的PEEK（聚醚醚酮）和鈀材料的插入式電極。

該設(shè)計(jì)正負(fù)電極片之間的距離更短，以盡可能的低的電壓使通常導(dǎo)電性不佳的有機(jī)相的納米體系的Zeta電位分析也可以輕松的進(jìn)行。其測(cè)量步驟與彎曲式U型毛細(xì)管樣品池的相同，靈敏度高，樣品之間可輕松快速切換且易于維護(hù)。

我們以NS-90Z Plus測(cè)試了某用戶抱怨的高電位但體系卻不穩(wěn)定的高分子樣品。如下圖Zeta電位測(cè)試結(jié)果顯示，其之前送樣測(cè)試的該樣品雖然擁有很高的電位絕對(duì)值，但其電位分布離散度也非常大，且曾雙峰分布。

該結(jié)果暗示了該產(chǎn)品的設(shè)計(jì)理論上可以得到非常好的穩(wěn)定體系，但當(dāng)前的顆粒修飾加工工藝還需要進(jìn)一步完善，例如可以調(diào)整批加工物料投放量、攪拌等分散條件、試劑比例、壓力、溫度、反應(yīng)時(shí)間、pH值等工藝條件來(lái)提高修飾均一性，縮窄電位分布的寬度，避免跨越等電點(diǎn)附近的有害不帶電顆粒的存在。

在這個(gè)案例中，得益于NS-90Z Plus高精準(zhǔn)的電位分布測(cè)試性能，發(fā)現(xiàn)了之前電位分析中難以識(shí)別到的少量影響產(chǎn)品質(zhì)量的Zeta電位離散顆粒的分布信息，解答了用戶的困擾，使得其可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果快速調(diào)整工藝參數(shù)，產(chǎn)品質(zhì)量得以不斷改善。