解析環(huán)境測(cè)試試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
 
產(chǎn)品在使用過(guò)程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等），會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力（有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）；為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬
一些測(cè)試項(xiàng)目，這些測(cè)試項(xiàng)目包括：
1、高溫測(cè)試（高溫運(yùn)行、高溫貯存）
 
2、低溫測(cè)試（低溫運(yùn)行、低溫貯存）
 
3、高低溫交變測(cè)試（溫度循環(huán)測(cè)試、熱沖擊測(cè)試）

4、高溫高濕測(cè)試（濕熱貯存、濕熱循環(huán)）

5、機(jī)械振動(dòng)測(cè)試（隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試、掃頻振動(dòng)測(cè)試）

6、汽車運(yùn)輸測(cè)試（模擬運(yùn)輸測(cè)試、碰撞測(cè)試）

7、機(jī)械沖擊測(cè)試
 
8、開(kāi)關(guān)電測(cè)試
 
9、電源拉偏測(cè)試
 
10、冷啟動(dòng)測(cè)試
 
11、鹽霧測(cè)試
 
12、淋雨測(cè)試
 
13、塵砂測(cè)試
 
 
上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)如下（部分試驗(yàn)可能沒(méi)有相關(guān)國(guó)標(biāo)，或者是我還沒(méi)有找到）：
 
1、低溫試驗(yàn)
 
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》；
 
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
 
溫度范圍：-70℃～10℃。
 
2、高溫試驗(yàn)
 
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍：10℃～210℃
 
3、濕熱試驗(yàn)
 
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》

GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。
 
濕度范圍：30%RH～99%RH

4、霉菌試驗(yàn)
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。
 
5、鹽霧試驗(yàn)
 
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。
 
6、低氣壓試驗(yàn)
 
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》

GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》

GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》

進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
 
7、振動(dòng)試驗(yàn)
 
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。
 
頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），zui大位移振幅3.5mm（滿載）。
頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，zui大位移25mmP-P。
 
8、沖擊試驗(yàn)
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。
沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
 
9、碰撞試驗(yàn)
 
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。
 
10、跌落試驗(yàn)
 
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》

GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。