摘要 SuperViewW非接觸式光學(xué)3D表面形貌測量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理，能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 光學(xué)透過率測量儀（可見光）升級(jí)型號(hào)LS183 型號(hào):XB12/LS183 庫號(hào)：M321341

摘要 立式光學(xué)計(jì) 鋁箔包裝薄膜厚度光學(xué)測量儀 光學(xué)紙張厚度測量儀 圓柱球形線形物體厚度測量儀型號(hào)BXS10-LS本儀器通過兩咱測量方式，目鏡讀數(shù)和投影讀數(shù)，是采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。

摘要 激光物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)器 光柵衍射物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)分析儀 光學(xué)實(shí)驗(yàn)測量儀1、本產(chǎn)品利用擴(kuò)展的分劃板附件實(shí)現(xiàn)小孔、單縫和單絲的衍射。2、不同寬度和間隔雙縫的干涉,泊松斑現(xiàn)象以及光柵衍射等各種物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)。

摘要 SuperViewW光學(xué)摩擦磨損形貌輪廓測量儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量的檢測儀器，它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。

摘要VX8000全自動(dòng)閃測儀光學(xué)圖像測量儀是使用一種新型影像測量技術(shù)的精密測量儀器，其一鍵測量二維平面尺寸測量，或是搭載光學(xué)非接觸式測頭實(shí)現(xiàn)高度尺寸、平面度等參數(shù)的精密快速測量。適用于要求批量測量或自動(dòng)測量的應(yīng)用場景，如電子PCB測量、五金零部件檢測、橡膠圈尺寸測量、手機(jī)...

摘要 Novator系列國產(chǎn)光學(xué)影像測量儀品牌采用高精度光學(xué)成像技術(shù)和計(jì)算機(jī)數(shù)字處理技術(shù)，能夠快速、準(zhǔn)確地獲取三維物體表面形態(tài)信息，并進(jìn)行精密的尺寸、角度等多項(xiàng)測量數(shù)據(jù)的分析和處理。

摘要 SuperViewW1光學(xué)三維輪廓測量儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量的檢測儀器。數(shù)秒內(nèi)可以獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數(shù)。也可以選擇拼接功能軟件升級(jí)來組合多個(gè)影像以提供大面積測量。

摘要Novator系列三坐標(biāo)光學(xué)影像測量儀是一種全自動(dòng)影像測量儀，采用高精度光學(xué)成像技術(shù)和計(jì)算機(jī)數(shù)字處理技術(shù)，能夠快速、準(zhǔn)確地獲取三維物體表面形態(tài)信息，并進(jìn)行精密的尺寸、角度等多項(xiàng)測量數(shù)據(jù)的分析和處理。不僅實(shí)現(xiàn)了對(duì)工件的形狀、長寬高、等數(shù)據(jù)的體現(xiàn)，同時(shí)對(duì)工件的表面平整度也...

摘要Novator系列光學(xué)影像測量儀具有X、Y、Z方向高精度測量能力，重復(fù)性精度1μm；支持點(diǎn)激光輪廓掃描測量以及線激光3D掃描成像，進(jìn)行高度方向上的輪廓測量，實(shí)現(xiàn)3D掃描成像和空間測量。還支持頻閃照明和飛拍功能，可進(jìn)行高速測量，大幅提升測量效率；具有可獨(dú)立升降和可更換R...

摘要 SuperViewW1白光干涉光學(xué)測量儀以白光干涉技術(shù)為原理，能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率，測試各類表面并自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)，廣泛應(yīng)用于光學(xué)，半導(dǎo)體，材料，精密機(jī)械等等領(lǐng)域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學(xué)測量儀器。

摘要 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì) 光學(xué)紙張厚度檢測儀 鋁箔薄膜厚度光學(xué)測量儀 鋼球線形物體厚度檢測儀型號(hào)BXS16-XGJ本儀器是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器以比較法測量工作的尺寸。

摘要 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì) 光學(xué)紙張厚度檢測儀 鋁箔薄膜厚度光學(xué)測量儀 鋼球線形物體厚度檢測儀型號(hào)BXS16-XGJ

摘要 立式光學(xué)計(jì) 鋁箔包裝薄膜厚度光學(xué)測量儀 光學(xué)紙張厚度測量儀 圓柱球形線形物體厚度測量儀型號(hào)BXS10-LS本儀器通過兩咱測量方式，目鏡讀數(shù)和投影讀數(shù)，是采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。

摘要光譜測量型微弱化學(xué)發(fā)光與 生物發(fā)光測量儀 微弱發(fā)光測試儀本型號(hào)特點(diǎn)是可以測量微弱發(fā)光的光譜特性。樣品室有濾片抽屜，提供干涉濾光片從400nm-620nm，共十五片，波長間隔15-20nm,濾片透過曲線半寬度12nm,535nm透過率70-80%。軟件進(jìn)行光譜響應(yīng)和濾片...

摘要測量表面形貌的新標(biāo)準(zhǔn)隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結(jié)構(gòu)的微細(xì)化，人們開始要求比傳統(tǒng)的普通SPM（掃描探針顯微鏡）、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產(chǎn)品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干涉掃描顯微鏡，納米尺度3D光學(xué)干涉測量系統(tǒng)VS1800，使用更方便，測量...

摘要 相關(guān)介紹光學(xué)傳遞函數(shù)（opticaltransferfunction）是指以空間頻率為變量，表征成像過程中調(diào)制度和橫向相移的相對(duì)變化的函數(shù)

摘要 熱釋光探測器退火爐是對(duì)熱釋光探測器進(jìn)行熱處理的設(shè)備，用于熱釋光探測器使用前和照射后的熱處理。使用前的熱處理用于消除探測器的殘余劑量，恢復(fù)探測器的初始靈敏度和發(fā)光曲線的形狀；照后低溫退火用于消除探測器的低溫峰，縮短測量周期，多用于大批量探測器的測量。

摘要 采用全新的多視角360度結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，真正實(shí)現(xiàn)了足部的完整掃描，3—5秒內(nèi)重建出足部高精度3D數(shù)據(jù)，并自動(dòng)輸出測評(píng)結(jié)果，一鍵式觸控操作讓店員或者客戶輕松掌控！

摘要 筆記本臺(tái)式顯示器成品和模組光學(xué)測量系統(tǒng)FS-TR系列、FS-VTA系列均可以滿足筆記本和臺(tái)式顯示器的光學(xué)特性測量。與手機(jī)屏測試不同之處在于，除了機(jī)臺(tái)尺寸增加之外，在顯示器測量標(biāo)準(zhǔn)和測試項(xiàng)目上也進(jìn)行了擴(kuò)展。

摘要 祼眼3D顯示器和電視光學(xué)特性測量系統(tǒng)符合標(biāo)準(zhǔn)。

摘要 眼鏡式顯示器和電視光學(xué)特性測量系統(tǒng)符合標(biāo)準(zhǔn)。

摘要 大尺寸背光模組導(dǎo)光板擴(kuò)散膜光學(xué)測量系統(tǒng)測試背光模組或?qū)Ч獍濉U(kuò)散膜的亮度、色度、亮度均勻性等。可自動(dòng)模擬生成整個(gè)面板的發(fā)光趨勢(shì)與分布圖。可支持110英寸背光模組的光學(xué)測試。分為直立式測量FS-AT系列和平躺式測量FS-G系列。

摘要 中小尺寸背模組光學(xué)測量系統(tǒng) 測試背光模組或?qū)Ч獍濉U(kuò)散膜的亮度、色度、亮度均勻性等。可自動(dòng)模擬生成整個(gè)面板的發(fā)光趨勢(shì)與分布圖。

摘要大型LCD和LCM光學(xué)測量系統(tǒng)價(jià)格LCD顯示器光學(xué)測量系統(tǒng)是我們靈活的光學(xué)性能測試解決方案，可擴(kuò)展您的顯示測量的需要。無論你是需要測試工程開發(fā)用的手機(jī)顯示模塊、背光模組、顯示應(yīng)用測試、還是生產(chǎn)上的QC/QA測量，我們的光學(xué)測量系統(tǒng)都能為你提供解決方案。所有DM系列系統(tǒng)...

摘要 中型LCD和LCM光學(xué)測量系統(tǒng)價(jià)格LCD 光學(xué)測量系統(tǒng)是我們靈活的光學(xué)性能測試解決方案，可擴(kuò)展您的顯示測量的需要。無論你是需要測試工程開發(fā)用的手機(jī)顯示模塊、背光模組、顯示應(yīng)用測試、還是生產(chǎn)上的QC/QA測量，我們的光學(xué)測量系統(tǒng)都能為你提供解決方案。

摘要 小型LCD和LCM光學(xué)測量系統(tǒng)價(jià)格LCD光學(xué)測量系統(tǒng)是我們靈活的光學(xué)性能測試解決方案，可擴(kuò)展您的顯示測量的需要。無論你是需要測試工程開發(fā)用的手機(jī)顯示模塊、背光模組、顯示應(yīng)用測試、還是生產(chǎn)上的QC/QA測量，我們的光學(xué)測量系統(tǒng)都能為你提供解決方案。

摘要中大型直立式BLU光學(xué)測量系統(tǒng)價(jià)格中大型直立式BLU光學(xué)測量系統(tǒng)，搭載亮度計(jì)主要進(jìn)行背光模組亮度和色彩均勻性測量。其目的是為LCD、PDP、OLED和LED顯示屏，以及LED、CCFL背光的研發(fā)，提供準(zhǔn)確的光學(xué)性能測量數(shù)據(jù)；主要用于實(shí)驗(yàn)室、工程研發(fā)以及QA/QC等相關(guān)...

摘要中大型平躺式BLU光學(xué)測量系統(tǒng)價(jià)格中大型平躺式BLU光學(xué)測量系統(tǒng)，搭載亮度計(jì)主要進(jìn)行背光模組亮度和色彩均勻性測量。其目的是為LCD、PDP、OLED和LED顯示屏，以及LED、CCFL背光的研發(fā)，提供準(zhǔn)確的光學(xué)性能測量數(shù)據(jù)；主要用于實(shí)驗(yàn)室、工程研發(fā)以及QA/QC等相關(guān)...

摘要 小型BLU光學(xué)測量系統(tǒng)價(jià)格小型LCD＆BLU光學(xué)測量系統(tǒng)，搭載亮度計(jì)主要進(jìn)行背光模組亮度和色彩均勻性測量。其目的是為LCD、PDP、OLED和LED顯示屏，以及LED、CCFL背光的研發(fā)，提供準(zhǔn)確的光學(xué)性能測量數(shù)據(jù)；主要用于實(shí)驗(yàn)室、工程研發(fā)以及QA/QC等相關(guān)部門。

摘要 在不同的行業(yè),都有對(duì)透光率測試的需求.需要測試透光率的產(chǎn)品形態(tài)各異,對(duì)于測試儀器的選擇也是各不相同.透過率測試儀廠家林上科技教你如何選擇合適的光學(xué)透過率測試儀.

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機(jī)、電子和計(jì)算機(jī)為一體的非接觸精密測量系統(tǒng)，專門為回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內(nèi)的回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機(jī)、電子和計(jì)算機(jī)為一體的非接觸精密測量系統(tǒng)，專門為回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內(nèi)的回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機(jī)、電子和計(jì)算機(jī)為一體的非接觸精密測量系統(tǒng)，專門為回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內(nèi)的回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機(jī)、電子和計(jì)算機(jī)為一體的非接觸精密測量系統(tǒng)，專門為回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內(nèi)的回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要蘇州馬路科技提供高精度3D檢測儀 ATOS Triple Scan 三維掃描儀價(jià)格，ATOS Triple Scan 測量系統(tǒng)采用的是 GOM 公司專門研發(fā)的測量和投影技術(shù)。德國GOM高精度3D光學(xué)量測儀ATOS Triple Scan三維掃描儀價(jià)格，提高了測量復(fù)雜...

摘要德國GOM中小型工件3D光學(xué)量測儀 ATOS cor如今，由于零部件形狀和功能的復(fù)雜程度日益增加，對(duì)小型零部件進(jìn)行掃描、分析以及檢測的重要性也不段提高。為此，專門針對(duì)諸如陶瓷型芯、鑄型和塑料件等小中型零部件的計(jì)量，GOM 公司研發(fā)并推出了 ATOS Core 系統(tǒng)。這...

摘要 HCParalMAT型 電子式光學(xué)平行差測量儀采用光學(xué)自準(zhǔn)直儀原理及高精度數(shù)字圖像處理技術(shù)完成對(duì)光學(xué)平晶、光學(xué)窗口或光楔的平行差測量，測量軟件可同時(shí)對(duì)兩個(gè)正交方向的平行差或zui大值進(jìn)行測量，提供±1.0角秒的測量精度。

摘要 DM-205/DM-210背光模組光學(xué)自動(dòng)測量系統(tǒng)DM-205/210光學(xué)自動(dòng)測量系統(tǒng)簡介DM-205/210光學(xué)自動(dòng)測量系統(tǒng)是用于10英寸（DM-205）/20英寸（DM-210）以下的背光模組、導(dǎo)光板、手機(jī)屏、平板顯示器，OLED顯示屏等的光學(xué)特性測量的系統(tǒng)。

摘要DM-510平面顯示器光學(xué)特性測量系統(tǒng) 選配型封閉式DM-510平面顯示器光學(xué)特性測量系統(tǒng)簡介DM-510光學(xué)特性測量系統(tǒng)是用于14英寸以下的LCM模組、手機(jī)屏、平板顯示器，OLED顯示屏等的光學(xué)特性測量的系統(tǒng)，符合VESA FPDM2.0、TCO06、ISO924...

摘要DM-510平面顯示器光學(xué)特性測量系統(tǒng)DM-510平面顯示器光學(xué)特性測量系統(tǒng)簡介DM-510光學(xué)特性測量系統(tǒng)是用于14英寸以下的LCM模組、手機(jī)屏、平板顯示器，OLED顯示屏等的光學(xué)特性測量的系統(tǒng)，符合VESA FPDM2.0、TCO06、ISO9241、SJ/T-...

摘要 臺(tái)式光學(xué)透過率測量儀LS108H專業(yè)用于手機(jī)鏡片，玻璃，鍍膜材料，有機(jī)材料，涂料等透光物質(zhì)的光學(xué)透過率測試。

摘要 光學(xué)透過率測量儀專業(yè)用于玻璃，鍍膜材料，有機(jī)材料，涂料，太陽膜等透光物質(zhì)的光學(xué)透過率測試。適用于單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃），貼膜玻璃，PMMA材料，ＰＣ材料等的光學(xué)性能測試。

摘要LS183光學(xué)透過率測量儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。 LS183專業(yè)用于玻璃，鍍膜材料，有機(jī)材料，涂料，太陽膜等透光物...

摘要 LS183光學(xué)透過率測量儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。