摘要 中圖儀器NS系列臺階儀接觸式輪廓測量儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

摘要中圖儀器SuperViewW1三維粗糙度輪廓測量儀以白光干涉技術為原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等...

摘要中圖儀器SJ5800二維粗糙度輪廓測量儀能實現對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。可廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業, 對零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進行檢測，是大曲面測量（軸承、人工關節、精密模具、...

摘要NS系列表面臺階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，能夠廣泛應用于半導體、太陽能光伏、光學加工、LED、MEMS器件、微納材料制...

摘要中圖儀器SuperViewW1國產白光干涉輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到...

摘要SuperViewW1中圖3d輪廓測量儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，...

摘要 聚乙烯真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要 煤真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要 漂珠真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要 氦氣真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要 固體真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要 粉體真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要 全自動真密度測試儀-密度是物質的物理特性之一，不同物質的密度一般不同，反映了不同物質的不同性質，因此，可以根據密度來鑒別物質。密度不隨物質形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質的狀態、溫度、壓強的改變而改變。

摘要SuperViewW系列3D輪廓儀三維形貌儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量...

摘要中圖儀器NS系列臺階儀探針輪廓儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面...

摘要 SJ5700S大量程粗糙度輪廓儀采用高精度光柵測量系統、高精度研磨導軌、高性能非接觸直線電機、音圈電機測力系統、高性能計算機控制系統技術，實現對各種工件表面輪廓進行測量和分析。

摘要中圖儀器SuperViewW1三維自動光學檢測輪廓儀以白光干涉技術為原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參...

摘要NS系列膜厚臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。儀器采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術，使得儀...

摘要 SJ5800接觸式二維輪廓測量儀可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現一次掃描測量，尤其是大范圍曲面、斜面進行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測，如圓弧面和球面、異型曲面進行多種粗糙度參數（如Ra、Rz等）、微觀輪廓度Pt、波紋度參數的測量。

摘要 中圖儀器SuperViewW1光學3d輪廓測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

摘要 中圖儀器NS系列接觸式臺階儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。它對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

摘要 中圖儀器SJ5800系列二維輪廓儀能實現對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。它具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，測試軸承內外側。可選軸承夾具和滾子分析，方便測試。

摘要 可靠性振實密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對應的質量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應物質的真密度。振實密度是指將盛在容器中的粉體在規定的條件下被振實后的密度。

摘要 實用性振實密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對應的質量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應物質的真密度。振實密度是指將盛在容器中的粉體在規定的條件下被振實后的密度。

摘要 快捷性振實密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對應的質量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應物質的真密度。振實密度是指將盛在容器中的粉體在規定的條件下被振實后的密度。

摘要 無限制振實密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對應的質量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應物質的真密度。振實密度是指將盛在容器中的粉體在規定的條件下被振實后的密度。

摘要 高嶺土振實密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對應的質量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應物質的真密度。振實密度是指將盛在容器中的粉體在規定的條件下被振實后的密度。

摘要 碳酸鈣振實密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對應的質量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應物質的真密度。振實密度是指將盛在容器中的粉體在規定的條件下被振實后的密度。

摘要 中圖儀器NS臺階儀探針式表面輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點。它可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

摘要 中圖儀器SJ5800系列粗糙度輪廓儀采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，分辨率高達0.1nm，系統殘差小于3nm。

摘要 NS200國產臺階形貌儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優勢。

摘要 法國Piezoconcept納米定位器C3.200適用于光纖對準和激光寫入C3三軸緊湊型納米定位器。是光纖對準、雙光子聚合、激光寫入等應用的理想工具。

摘要 法國Piezoconcept納米定位器LTHS3易于集成到倒置顯微鏡中LTHS3三軸低矮型（20 毫米）高速平臺。易于集成到倒置顯微鏡中。

摘要 法國Piezoconcept壓電平臺BIO3.300具有更高的熱穩定性BIO3 是一款三軸超薄型納米定位器，可集成到任何一種倒置顯微鏡中。

摘要 法國Piezoconcept壓電平臺LF2.200結構緊湊占地面積小LF2結構緊湊、占地面積小的雙軸壓電平臺。

摘要 法國Piezoconcept壓電平臺LT2.200易于集成到倒置顯微鏡中LT2雙軸平臺，外形非常小巧（15.5 毫米），易于集成到倒置顯微鏡中。

摘要 法國Piezoconcept納米定位器LFHS2.30可與粗定位微動平臺結合LFHS2 是一款雙軸超高速納米定位器，X 軸和 Y 軸的行程范圍高達 75µm，具有 66mm x 66mm 的大孔徑，雙軸諧振頻率均高于 2kHz。

摘要 法國Piezoconcept壓電平臺SLR.500無摩擦裝配可靠性高SLR在我們的產品系列中，行程范圍較長的壓電級（達 1500 微米）。

摘要 法國Piezoconcept壓電平臺Z-INSERT-INC.300帶有嵌入式臺式環境室

摘要 法國Piezoconcept壓電平臺Z-INSERT.200與標準多孔微孔板兼容

摘要 SuperViewW系列3d輪廓儀白光干涉儀是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

摘要 法國Piezoconcept單軸壓電平臺LF1.100可與粗定位微動平臺組合使用

摘要 法國Piezoconcept納米定位器FOCHS.100用于顯微鏡物鏡的精確定位

摘要 法國Piezoconcept納米定位器HS1H.30非常適合用于光學顯微鏡HS1H高速緊湊型納米定位器，中心孔徑 33 毫米。是光學顯微鏡應用的理想之選。

摘要 法國Piezoconcept納米定位器Z-STAGE.10具有高速性能Z Stage具有高速能力的緊湊型 Z 直接驅動納米定位器。