ELEMENT Instrument分析的優勢和特點

*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果

*有助于識別鍍層成分的創新型功能

*機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

*按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的精確結果

*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書

*用戶通過攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心

*Thick系列分析儀測試數據可以下載和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享

*有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用

Thick 880臺式XRF鍍層分析儀

硬件性能及優勢

超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超

人性化界面

儀器性能

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）

同時可以分析幾十種以上元素，五層鍍層

分析檢出限可達2ppm,鍍層分析可以分析0.005um厚度樣品

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

多次測量重復性可達0.1%

長期工作穩定性可達0.1%

度適應范圍為15℃至30℃。

儀器配置

高壓電源 0 ~ 50KV

光管管流 0μA ~ 1000μA

攝像頭

濾光片 可選擇多種定制切換

探測器 美國進口探測器

多道分析器 ELEMENT INSTRUMENT-DMCP

樣品腔尺寸 310*280*60（mm）

測試時間10sec ~ 100sec

儀器環境要求

環境溫度 15°C ~ 30°C

相對濕度 35% ~ 70%

電源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ

分析軟件 ELEMENT INSTRUMENT-FP定性定量分析軟件

外部尺寸 380*372*362（mm）

重量 29Kg