XTU-50A鍍層測厚儀是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，C型開槽設計樣品腔，讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測，同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
1）搭載微聚焦加強型X射線發生器和*的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.002mm22）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測Ni和第三層Ni的厚度）4）配備高精密微型移動滑軌，可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測5）可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：氯Cl（17）/鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層檢出限：0.005μm6）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作7）標配為2個準直器任意選擇一種，最小測量面積可達0.002mm28）配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%
XTU-50A鍍層測厚儀應用領域
1.引線框架及電子元器件接插件檢測
2.手表、精密儀表制造行業
3.汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測
4.電鍍液的金屬陽離子檢測
