一六儀器專注于光譜分析儀生產(chǎn)、研發(fā)等多年，在這些年研發(fā)人員根據(jù)市場需求，不斷研發(fā)新技術(shù)，生產(chǎn)了很多不同型號的光譜測厚儀，這些光譜測厚儀都有著各自的特點也有自己適用的類型，那今天就跟著光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來看一下吧。

　　XTU系列光譜測厚儀

　　變焦旋鈕：可通過變焦旋鈕，配合軟件的變焦距離補償算法，快速得出測量結(jié)果，能測試高度落差30mm的異形樣品;

　　XY高精密移動滑軌：可快速準確X、Y軸雙向操作，精度0.01mm;

　　XTU系列光譜儀，適用于平面、微小樣品或者微凹槽落差30mm內(nèi)的異形件涂鍍層分析和檢測。

　　XAU系列光譜分析儀

　　更廣的檢測范圍，可測試更低檢出限、更高精度要求的產(chǎn)品;

　　可視化雙向操作：實時監(jiān)控儀器各項數(shù)據(jù)，軟硬件雙向可操控設計，方便快捷;

　　XAU系列光譜儀，不但可以檢測微小樣品及凹槽異形件的鍍層厚度，還可以高效滿足微區(qū)RoHS檢測，地礦以及貴金屬、合金的全元素分析。

　　XTD系列光譜測厚儀

　　XYZ高精密移動裝置：快速精準定位，手/自動(可選)，自動版可實現(xiàn)編程定位多點自動測試。

　　變焦+對焦：配備高敏感鏡頭，實現(xiàn)無感對焦，可測各種異形件、大工件、多點密集件，如PCB板、衛(wèi)浴、汽車部件等行業(yè)，可實現(xiàn)凹槽深度達90mm范圍的復雜樣品檢測;

　　XTD系列光譜儀，適用于各種超大異形件及微小密集型多點測試，如模具、衛(wèi)浴、線路版以及電子元器件的表面成分和鍍層分析。

　　一六儀器XAD光譜分析儀：可編程全自動檢測。

　　XAD系列光譜儀，不但可以測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，同時高效滿足微區(qū)RoHS檢測，以及全元素成分分析(成分分析范圍Al-U)