DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀自動識別基材,將磁性和渦流測量法相結合,DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀可自動識別基體,大容量存儲。 DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀的特點: -根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量 DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀方便的手持設備,用于對幾乎所有金屬上的涂層進行非破壞性的涂層厚度測量應用行業: 菲希爾涂層測厚儀常用的探頭圖示: 常用磁性探頭:FGAB1.3,測量范圍:0 - 2000 μm 常用渦流探頭:FTA3.3H,測量范圍:0 - 1200 μm 常用磁性非磁性雙功能探頭:FD10,測量范圍:磁性:0-1300 μm,渦流,0-800 μm |