鍍層測厚儀XF-P1
XF-P1型鍍層測厚儀是一款面向鍍層、膜厚、涂層行業厚度無損檢測的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于涂層厚度產品質量的管理。該產品既可以分析各種金屬涂層厚度以及成分分析，可同時分析基材和鍍材的成分及厚度。采用基本參數法算法，無需標樣，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高。
產品展示
產品特點
元素檢測范圍：鋁(3)～鈾(No.92)
分析范圍：≤50μm
檢測精度：相對誤差≤±1%（最小基體影響）
檢測樣品：鍍層厚度/成分/液體濃度。
定制TCP/IP協議API接口，支持對模塊的控制、狀態監控及數據采集
支持配件：XY平臺微動裝置
XY雙軸行程：±15mm
產品規格
輸入電壓：交流100～240V，50Hz
產品包裝尺寸：770mm x 510mm x 400mm
產品尺寸：467mm x 345mm x 336mm
樣品腔尺寸：306mm x 248mm x 124mm
額定功率：<150W
毛重：50KG
凈重：32KG
噪音：50dB
使用環境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
核心部件
探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器
內置工控電腦：四核i5工控電腦
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鈹窗
靶材：鎢
焦點：? 0.1mm
準直器：0.1mm×0.2mm/0.2mm×0.5mm/?1.0mm
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