Film Sense新一代多波長橢偏儀系統現已問世。Film Sense FS-1EX和FS-1UV橢偏儀測量薄膜的功能更強，波長更長，光譜范圍也更廣。新一代橢偏儀系統既擁有* FS-1技術的相同特點(經久耐用的LED光源，快速可靠且無移動部件的探測器，緊湊的設計以及瀏覽器軟件界面)，同時具備易用性和可購性。
產品特點及規格
FS-1EXTM 橢偏儀
l 6 條波長，光譜范圍405–950 nm
l 微型光學器件：光源137 x 80 x 60 mm，探測器110 x 80 x 60mm
l 與FS-1相比強度增加4倍以上
l 2條較長波長(850和950 nm)可以測量更厚的透明薄膜(厚度可達5μm)以及吸收性薄膜（如多晶硅、SiGe、非晶硅等）
l 2條較長波長也提高了對薄膜電阻率的測量
l 6條波長和更寬的光譜范圍強化了測量多層膜堆的能力
FS-1UVTM 橢偏儀
l 6條波長，光譜范圍280–660 nm
l 微型光學器件：光源137 x 80 x 60 mm，探測器110 x 80 x 60mm
l 紫外波長(280 nm和305 nm)超過大多數半導體的間接帶隙，可增強合成物的敏感度
l 紫外波長也可以加強透明基片和薄膜的折射率對比
FS-1TM(Gen. 2)橢偏儀
l 4條波長，不同于FS-1的4條波長
l 微型光學器件：光源和探測器110 x 80 x 60mm
l 略寬的光譜范圍 (450–660 nm)
l 與FS-1相比強度增加4倍以上
l 精度提高2倍
l 更容易內部校準
l 測量0 - 2μm厚度范圍內單層透明薄膜的，精度可達0.001 nm
自動映射系統
FS-1EX多波長橢偏儀與小型自動映射系統組裝，可快速、準確地測量晶圓薄膜厚度均勻性。
l 6條波長的橢圓偏振測量數據（405，450，525，660，850，950 nm），帶經久耐用的LED光源以及無移動部件的探測器
l 大多數透明薄膜厚度地精確測量：0 - 5μm
l 典型薄膜厚度重復性：0.015 nm
l 集成聚焦探頭，標準光斑尺寸：0.8 x 1.9 mm(其他光斑尺寸可供選擇)
l 可使樣品自動校準的電動z型臺
l 靈活的掃描圖形編輯器
l 測量參數的等高線和三維圖
