CMI900X射線鍍層測厚儀-英國牛津產(chǎn)品,品質(zhì)!CMI900X射線鍍層測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。廣泛適用于電子元件、半導(dǎo)體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件。

　　CMI900做為品牌在PCB，五金瑞子連接器及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，南華地區(qū)90％以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具 X-熒光鍍層測厚儀CMI900金屬鍍層厚度的測量 CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂／鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000 中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLinkFP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900／950主機的全面自動化控制。

　　CMI900鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)： A：在技術(shù)上一直以來都于的測厚行業(yè).CMI900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15種元素。

　　B：度于世界，到0.025um（相對與標準片）

　　C：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

　　D：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

　　E：可測量任一測量點，小可達0.025x0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。

　　CMI900x系列鍍層測厚儀樣品臺選擇：采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

　　一：手動樣品臺

　　1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

　　2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

　　3 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

　　二：自動樣品臺

　　1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

　　2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

　　CMI900系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

　　1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為300mm x300mm。 此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

　　2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品大高度為270mm。

　　3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品大高度為356mm。

　　CMI900系列可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。