- O系列采用毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)，擁有精準(zhǔn)的測(cè)試性能，同時(shí)能實(shí)現(xiàn)極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細(xì)管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型中的準(zhǔn)直器組件。由于多導(dǎo)毛細(xì)管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號(hào),可以有效提高到達(dá)樣品表面的入射X射線強(qiáng)度。O系列配備高分辨率的SDD探測(cè)器，在短時(shí)間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù)，在短時(shí)間內(nèi)滿足極小斑點(diǎn)的測(cè)量的同時(shí)獲取精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果（準(zhǔn)確性和重復(fù)性）。
- 該系列采用80μm毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)，同時(shí)配備可處理更高計(jì)數(shù)速率的高分辨率SDD硅漂移探測(cè)器。O系列的相機(jī)具有更大的放大倍數(shù)，擁有45x視頻放大和5x數(shù)碼變焦。一個(gè)可編程的XY樣品臺(tái)也是標(biāo)準(zhǔn)配置。O系列的焦距非常接近，所以使用時(shí)樣品必須平整。
博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求：
- 極小的樣品，如半導(dǎo)體，連接器或PCB
- 需要測(cè)試多個(gè)樣品的多個(gè)位置
- 需要測(cè)量非常薄的涂層（<100nm）
- 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量（1-5秒）- 符合IPC-4552A
博曼O系列產(chǎn)品參數(shù)：
類別 參數(shù)
元素測(cè)量范圍： 13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素
X射線管： 50 W鉬鈀射線管 80um毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)
探測(cè)器： 135eV及以上分辨率的硅漂移探測(cè)器
分析層數(shù)及元素?cái)?shù)： 5層，每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素
濾波器： 2位置一次濾波器
焦距： 固定焦距（0.1"）
數(shù)字脈沖器： 4096 多通道數(shù)字處理器，自動(dòng)死時(shí)間和逃逸峰校正
計(jì)算機(jī)： 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位
相機(jī)： 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率，250X雙攝像頭或45X單攝像頭
電源： 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz
重量： 53kg
可編程XY平臺(tái)：
平臺(tái)尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"
樣品倉(cāng)尺寸： 高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：340mm（13"）
外形尺寸： 高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"）
關(guān)于美國(guó)博曼：
美國(guó)博曼（Bowman）是高精度臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測(cè)技術(shù)，可精準(zhǔn)高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時(shí)，博曼XRF系統(tǒng)也可以測(cè)量高熵合金（HEAs）
