45MG超聲波測(cè)厚儀

☆測(cè)量范圍：0.080 mm～635 mm

☆工作頻率：0.508 mm/μs～18.699 mm/μs

☆檢測(cè)精度：0.01毫米

☆示值誤差：0.001毫米

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

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45MG超聲測(cè)厚儀:

操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、性能可靠

 
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。

標(biāo)準(zhǔn)功能

 45MG儀器在使用基本配置時(shí)，是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀，操作人員經(jīng)過(guò)最基本的培訓(xùn)，就可完成的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò)，45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后，就會(huì)變成一款極為高級(jí)的測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買儀器時(shí)分別購(gòu)買，或在日后需要時(shí)購(gòu)買。
購(gòu)買。
 

  l  與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量
  l  最小值/值模式
  l  兩個(gè)報(bào)警模式
  l  差值模式
  l  時(shí)基B掃描
  l  縮減率
  l  增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）
  l  密碼式儀器鎖定
 
帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器
 抵御惡劣環(huán)境的能力
      l  堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
   l  爆炸性氣氛：可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。
   l  防撞擊測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
   l  防振動(dòng)測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
   l  寬泛的操作溫度范圍
   l  可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套
 簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念
      l  可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)
   l  可直接訪問(wèn)大多數(shù)功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面
   l  使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式
   l  USB通訊端口
   l  可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
   l  默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
   l  密碼保護(hù)方式的儀器鎖定
   l  彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有的清晰度
可選功能
   只需幾次按鍵，即可完成從簡(jiǎn)單腐蝕測(cè)厚儀到多功能精確測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途泛的測(cè)厚儀行列。
       回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測(cè)量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描： 用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
 
室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式
 
室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式
 使用雙晶探頭對(duì)腐蝕工件進(jìn)行測(cè)量
      45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中使用的是雙晶探頭。
        l  用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能
    l  當(dāng)校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)雙回波時(shí)，會(huì)發(fā)出雙回波警告
    l  回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測(cè)量帶有漆層和涂層的表面
    l  高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500 °C
B掃描成像（基于時(shí)間）
      45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí)，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)最小值功能用于顯示掃查區(qū)域的最小厚度值。可選45MG數(shù)據(jù)記錄器最多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。


室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式
 回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)
 回波到回波
 測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：
  l   自動(dòng)回波到回波
  l   手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：
    Ø  增益調(diào)整
    Ø  擴(kuò)展空白
    Ø   回波空白
 
顯示A掃描的自動(dòng)回波到回波模式
 
調(diào)整個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式
 高溫表面
 
45MG測(cè)厚儀配上D932系列探頭（D790、D790­-SM、D790-RL和D790-SL），是測(cè)量高溫材料（溫度高達(dá)500 ºC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過(guò)補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的精確性。
          
     
 穿透涂層技術(shù)
 
使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
 
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項(xiàng)未被激活）

顯示可選波形的穿透涂層模式
 使用單晶探頭對(duì)工件進(jìn)行精確測(cè)量
對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量
 使用單晶探頭
 用戶使用單晶探頭可以精確測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購(gòu)買單晶軟件或高穿透軟件選項(xiàng)。
      l   在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時(shí)，單晶軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米（0.0001英寸）的測(cè)量值。
   l   高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
   l   測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
   l   自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。
 單晶軟件選項(xiàng)
 用戶使用單晶軟件選項(xiàng)，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
      l   大多數(shù)薄材料和厚材料
   l   壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
   l   壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件
   l   汽缸孔、渦輪葉片
   l   玻璃燈泡、瓶子
   l   薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
   l   曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
 
高穿透軟件選項(xiàng)可以對(duì)很多鑄造金屬部件及聲波衰減性的材料進(jìn)行測(cè)量。
 應(yīng)用設(shè)置調(diào)用
 應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。用戶在選擇了任何一個(gè)存儲(chǔ)探頭后，45MG測(cè)厚儀即會(huì)調(diào)出所有與這個(gè)內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。
 存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置
 45MG儀器帶有21個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置，可用于的測(cè)量操作。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測(cè)量應(yīng)用。
 存儲(chǔ)的自定義設(shè)置
 45MG還可存儲(chǔ)最多35個(gè)自定義單晶探頭的設(shè)置，其中還包括校準(zhǔn)信息。用戶可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測(cè)量，甚至還可完成最復(fù)雜的測(cè)厚應(yīng)用。
 材料聲速測(cè)量
 45MG儀器可以測(cè)量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。
 縮減率測(cè)量
 差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異。縮減率計(jì)算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對(duì)經(jīng)過(guò)彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進(jìn)行的縮減率測(cè)量是一個(gè)典型的應(yīng)用。
 
使用20 MHz延遲塊探頭測(cè)量薄塑料材料。
 
使用V260-SM Sonopen探頭對(duì)薄玻璃進(jìn)行測(cè)量。
 
測(cè)量金屬板因彎曲變形而變薄的情況。
 
可測(cè)量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復(fù)合材料在內(nèi)的很多材料的厚度。
 單晶高穿透軟件選項(xiàng)
 
  
   用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。 這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
        l   大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料
    l   厚鑄造金屬部件
    l   厚橡膠輪胎、履帶
    l   玻璃纖維船體、儲(chǔ)存罐
    l   復(fù)合材料板
    l   對(duì)于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量
雙晶探頭測(cè)量模式	從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。
自動(dòng)回波到回波（可選）	在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測(cè)量 （可選）	利用單個(gè)底面回波，測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測(cè)量模式（可選）	模式1：激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 模式2：延遲塊回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測(cè)量的范圍需要使用單晶選項(xiàng)）
材料聲速范圍	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項(xiàng)：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍	標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤	密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機(jī)殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
電源	3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)
電池工作時(shí)間	3節(jié)AA堿性電池：20到21小時(shí) 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時(shí) 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時(shí)
標(biāo)準(zhǔn)	設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)
顯示
彩色透反QVGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波	全波、RF波、正半波、負(fù)半波（波形選項(xiàng)）
輸入/輸出
USB	2.0從接口
存儲(chǔ)卡	容量：2 GB可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器	45MG通過(guò)USB或MicroSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量	475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼	32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu)	6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)
報(bào)告	機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和最小值/值