GW-YDZK03A高溫壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：高溫，介電， D33系數(shù)，顯微鏡

壓電阻抗分析主機

GW-YDZK03A高溫壓壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)是用于高溫壓電材料測試，主要是主要用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的高溫阻抗分析與測試，是對壓電器件和設備進行頻率掃描和阻抗測量分析的解決方案，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數(shù)特性,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關(guān)系數(shù)，是一款高溫壓電器件的科學研究重要輔助工具，而且可以配合高溫壓陶瓷壓電分析夾具和壓電分析軟件，可以測試高溫和常溫下壓電陶瓷的壓電器件的頻率響應曲線分析等相關(guān)參數(shù)。

一、產(chǎn)品應用范圍：

1.高溫壓電材料器件科學研究

2.高溫壓電材料的用于評定壓電陶瓷片性能優(yōu)劣

3.高溫壓電材料阻抗分析

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1. 溫度：-160℃-600℃

2.  測試頻率：10Hz--10MHz

3、 測溫精度：±1℃

4、 通道數(shù)： 單通道

5、 電極：鉑依金電極

6、 測試電平: 5mV—2Vrms

7、 輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、 基本準確度: 0.1%

9、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

10、可測量22種阻抗參數(shù)組合

11、接口方式: RS232C或HANDLER

12、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

13、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

16、可配合壓電系數(shù)d33測試范圍：0-8000PC/N

18、薄膜平臺：30*30MM樣品臺,探針連接

19、可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

20、可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用

21、體積：240×200×80mm

22、重量 ：3KG